[发明专利]一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法有效

专利信息
申请号: 202010089521.4 申请日: 2020-02-13
公开(公告)号: CN111103245B 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 王延仓;李会民;李旭青;杨秀峰;金永涛;耿一峰;邓钦午;李一鸣;苏晓彤 申请(专利权)人: 北华航天工业学院
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/552
代理公司: 郑州智多谋知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 41170 代理人: 李记辉
地址: 065000 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 光谱 技术 玉米 霉变 快速 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1,准备霉变玉米和未霉变玉米;霉变玉米和未霉变玉米已经晾干处理,将两类玉米至于黑布上,并利用地物光谱仪测定两类玉米样本光谱,光谱测量采用室内光谱测定方式;

S2,利用地物光谱仪分别采集霉变玉米和未霉变玉米的光谱数据,并进行特征分析;

S3,根据波段400nm、700nm对应的光谱反射率分别计算霉变玉米和未霉变玉米的玉米霉变指数;

S4,统计分析霉变玉米和完好玉米的霉变指数值的变化范围,并依据实际情况确定霉变与未霉变玉米分界值;

S5,基于所述霉变与未霉变玉米分界值,判断待测玉米是否霉变;

所述步骤S2中,根据波段400nm、700nm对应的光谱反射率分别计算霉变玉米和未霉变玉米的玉米霉变指数,具体包括:

玉米霉变指数计算公式:

式中,式中:R700为玉米光谱700nm波段位置的反射率值,R400为玉米光谱400nm波段位置的反射率值,400、700分别为波长,单位为nm;

所述步骤S3中,所述霉变与未霉变玉米分界值为:玉米霉变指数0.0015,大于0.0015为未霉变玉米,小于0.0015的为霉变玉米。

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