[发明专利]一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法有效
申请号: | 202010089521.4 | 申请日: | 2020-02-13 |
公开(公告)号: | CN111103245B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
发明(设计)人: | 王延仓;李会民;李旭青;杨秀峰;金永涛;耿一峰;邓钦午;李一鸣;苏晓彤 | 申请(专利权)人: | 北华航天工业学院 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/552 |
代理公司: | 郑州智多谋知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 41170 | 代理人: | 李记辉 |
地址: | 065000 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光谱 技术 玉米 霉变 快速 检测 方法 | ||
1.一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,准备霉变玉米和未霉变玉米;霉变玉米和未霉变玉米已经晾干处理,将两类玉米至于黑布上,并利用地物光谱仪测定两类玉米样本光谱,光谱测量采用室内光谱测定方式;
S2,利用地物光谱仪分别采集霉变玉米和未霉变玉米的光谱数据,并进行特征分析;
S3,根据波段400nm、700nm对应的光谱反射率分别计算霉变玉米和未霉变玉米的玉米霉变指数;
S4,统计分析霉变玉米和完好玉米的霉变指数值的变化范围,并依据实际情况确定霉变与未霉变玉米分界值;
S5,基于所述霉变与未霉变玉米分界值,判断待测玉米是否霉变;
所述步骤S2中,根据波段400nm、700nm对应的光谱反射率分别计算霉变玉米和未霉变玉米的玉米霉变指数,具体包括:
玉米霉变指数计算公式:
式中,式中:R700为玉米光谱700nm波段位置的反射率值,R400为玉米光谱400nm波段位置的反射率值,400、700分别为波长,单位为nm;
所述步骤S3中,所述霉变与未霉变玉米分界值为:玉米霉变指数0.0015,大于0.0015为未霉变玉米,小于0.0015的为霉变玉米。
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