[发明专利]测试用例的选择方法、装置、电子设备和可读存储介质

权利要求书

1.一种测试用例的选择方法，其特征在于，包括：

获取多个测试用例，测试用例包括若干个功能节点；

根据所述多个测试用例，生成测试用例和功能节点相关的第一矩阵；

将第一矩阵进行协方差运算，获得第二矩阵；

对所述第二矩阵进行奇异值分解，获得所述第二矩阵的特征值和特征向量，选择数值最大的若干个特征值对应的特征向量，将选定的特征向量形成第三矩阵，将所述第三矩阵与所述第一矩阵相乘，获得第四矩阵；

以选择的特征值数量为坐标维度，将第四矩阵中的测试用例进行投影，获得对应各测试用例的投影点；

根据位置分布，对各投影点分类，获得多个类别；

分别从每个类别中选择至少一个投影点，将选出的投影点对应的测试用例作为选定的测试用例；

其中，所述测试用例通过以下步骤形成：

接收用户使用所述测试用例针对的APP时的操作及对应的功能节点；

分析所述操作及对应的功能节点；

组合属于一条路径的操作的功能节点，形成一个所述测试用例。

2.根据权利要求1所述的测试用例的选择方法，其特征在于，所述第一矩阵的行，为测试用例识别号，所述第一矩阵的列，为功能节点的识别号；或者，

所述第一矩阵的列，为测试用例识别号，所述第一矩阵的行，为功能节点的识别号。

3.根据权利要求1所述的测试用例的选择方法，其特征在于，所述将第一矩阵进行协方差运算之前，包括：对第一矩阵进行去中心化处理；

所述将第一矩阵进行协方差运算，具体为：将去中心化处理后的第一矩阵进行协方差运算。

4.根据权利要求1所述的测试用例的选择方法，其特征在于，所述选择数值最大的若干个特征值对应的特征向量，具体为：选择数值最大的两个特征值对应的特征向量；

所述以选择的特征值数量为坐标维度，将第四矩阵中的测试用例进行投影，具体为：在两维坐标中，将第四矩阵中的测试用例进行投影。

5.根据权利要求1所述的测试用例的选择方法，其特征在于，所述根据位置分布，对各投影点分类，获得多个类别，具体为：根据位置分布，对各投影点进行聚类处理，获得多个类簇；

所述分别从每个类别中选择至少一个投影点，具体为：分别从每个类簇中选择至少一个投影点。

6.根据权利要求5所述的测试用例的选择方法，其特征在于，所述分别从每个类别中选择至少一个投影点中，选出的投影点为与类簇中心的间距小于阈值的投影点。

7.一种测试用例的选择装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取多个测试用例，测试用例包括若干个功能节点；

矩阵生成模块，用于根据所述多个测试用例，生成测试用例和功能节点相关的第一矩阵；

矩阵转换模块，用于将第一矩阵进行协方差运算，获得第二矩阵；

矩阵分解模块，用于对第二矩阵进行奇异值分解，获得所述第二矩阵的特征值和特征向量，选择数值最大的若干个特征值对应的特征向量，将选定的特征向量形成第三矩阵，将所述第三矩阵与所述第一矩阵相乘，获得第四矩阵；

投影模块，用于以选择的特征值数量为坐标维度，将第四矩阵中的测试用例进行投影，获得对应各测试用例的投影点；

分类模块，用于根据位置分布，对各投影点分类，获得多个类别；

处理模块，用于分别从每个类别中选择至少一个投影点，将选出的投影点对应的测试用例作为选定的测试用例；

其中，所述测试用例通过以下步骤形成：

接收用户使用所述测试用例针对的APP时的操作及对应的功能节点；

分析所述操作及对应的功能节点；

组合属于一条路径的操作的功能节点，形成一个所述测试用例。