[发明专利]测量电子元件的引脚的输入电容值的方法及其装置

说明书

本发明提供了一种测量电子元件的引脚的输入电容值的方法及其装置，所述方法包含使用一包含引脚电路的测试器，在引脚与引脚电路断开时取得一第一电容量测值，以及在引脚连接至引脚电路时取得一第二电容量测值；以及根据第一电容量测值及第二电容量测值计算引脚的输入电容值。

技术领域

本发明有关于自动化测试设备(ATE)，更具体地说，是有关于使用ATE量测受测元件(DUT)的输入电容值。

背景技术

自动化测试设备(ATE)用于在一元件(以下将其称为受测元件或是DUT)上进行测试。当受测元件为一电子元件，例如集成电路(IC)时，此ATE通常会施加电压以及电流样本至受测元件的输入端，以及测量受测元件的输出端的电压以及电流。

ATE亦可用于量测元件特性，例如量测在各种变化条件下受测元件的参数。

大致上，ATE技术包含硬件以及软件，1999年F.Liguori在Wiley Encyclopedia ofElectrical and Electronics Engineering上发表的“自动化测试设备(Automatic TestEquipment)”文件中可发现相关内容。

发明内容

根据一实施例，本发明提供一种测量一电子元件的一引脚的一输入电容值的方法，其包含以下步骤：使用一包含引脚电路的测试器，在该引脚与该引脚电路断开时取得一第一电容量测值，以及在该引脚连接至该引脚电路时取得一第二电容量测值；以及根据该第一电容量测值及该第二电容量测值计算该引脚的该输入电容值。

根据一实施例，取得每一该第一电容量测值及该第二电容量测值的步骤包含:使用一电流源以至少一预先定义电流驱动该引脚电路，以及测量该引脚电路对应该至少一预先定义电流而产生的至少一电压。根据一实施例，至少一电压包含至少二电压，其中计算该输入电容值的步骤包含:从该至少一电压推导出一随时间变化的电压斜率，以及根据该电压斜率计算该输入电容值。

根据一实施例，取得第一电容量测值及该第二电容量测值的步骤包含:在取得该第一电容量测值之前提示一使用者将该引脚与该引脚电路断开，以及在取得该第二电容量测值之前提示该使用者连接该引脚以及该引脚电路。

根据一实施例，本发明再提供一种测量一电子元件的一引脚的一输入电容值的装置，包含：多个引脚电路，连接至该引脚；以及一控制器，在该引脚与该引脚电路断开时取得一第一电容量测值，以及在该引脚连接至该引脚电路时取得一第二电容量测值，以及根据该第一电容量测值及该第二电容量测值计算该引脚的该输入电容值。

根据一实施例，本发明再提供一种计算机软件产品，用以测量一电子元件的一引脚的一输入电容值，该计算机软件产品包含一实体非暂态电脑可读媒体，用以储存程序指令，当耦接于连接至该引脚的引脚电路的处理器读取该程序指令时，该处理器执行：在该引脚与该引脚电路断开时取得一第一电容量测值，以及在该引脚连接至该引脚电路时取得一第二电容量测值；以及根据该第一电容量测值及该第二电容量测值计算该引脚的该输入电容值。

附图说明

图1为示意性绘示根据本发明的实施例的自动化测试设备(ATE)的方块图；

图2为示意性描述根据本发明的实施例的测量受测元件的输入引脚电容值方法的流程图；

图3为示意性描述根据本发明的实施例的引脚电路(Pin Electronics，PE)的结构方块图；

图3A为示意性描述驱动IOL电流至受测元件引脚的方块图；

图3B为示意性描述从受测元件引脚接收IOH电流的方块图；

图4为根据本发明一实施例的自动化测试设备的引脚电路设定的屏幕截图；

图5为根据本发明一实施例的自动化测试设备的直流设定的屏幕截图；