[发明专利]基于点云信息的缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 202010093446.9 申请日: 2020-02-14
公开(公告)号: CN111311576B 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 郭寅;尹仕斌;孙博;郭磊;刘方明 申请(专利权)人: 易思维(杭州)科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310051 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 信息 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)对被测物表面的点云数据进行数据处理,获取各点的法向量及主曲率;

2)根据点云数据坐标的所在位置,将点云数据分割成n块局部点云;n取值为正整数;

3)选取其中一块局部点云记为第一点云;求取所述第一点云中各点主曲率的平均值,记为均值A;再利用均值A分别与第一点云中各点的法向量作内积运算,得到各点的内积值;对各点的内积值进行差分或卷积运算,将计算结果的绝对值记为各点的特征数;

若某点的特征数大于阈值I则将该点记为缺陷点,否则,记为正常点;

4)若n=1,直接进行步骤5);

否则去除所述第一点云,对剩余的局部点云,重复步骤3),直到遍历完所有点云数据;

5)将步骤2)~4)进行多次,每次分割得到的局部点云块数互不相同,在进行完最后一次后,判断同一点在多次分割过程中被记录为缺陷点的概率;

若概率大于预设概率B,则保持该点为缺陷点,否则将该点记为正常点;

遍历点云数据中的各点,再次标记每个点的类型,根据各点被标记的类型,得出被测物表面是否存在缺陷及缺陷存在的位置。

2.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:步骤2)~4)进行2~6次。

3.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:预设概率B取值30%~70%。

4.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:所述阈值I=3δ,δ表示当前块第一点云数据中各点特征数的标准差。

5.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:当被测物表面存在棱边、孔特征时,在步骤1)之前,首先利用以下方式对初始点云数据进行筛选:

将初始点云数据与标准数据进行模板匹配,得到棱边、孔特征区域上的点并剔除,将剩余的点云记为被测物表面的点云数据,进行步骤1)。

6.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:步骤1)获取各点法向量及主曲率的方法为:

在获取被测物表面的点云数据后,随机选取一点记为点C,利用kd树查找点C周围的10-40个点记为近邻点,根据最小二乘法将近邻点坐标拟合出第一平面,所述第一平面法向量记为点C的法向量初始值,利用加权平均对法向量初始值进行修正,得到最终的法向量;

利用点C及其法向量、其中一个近邻点及其法向量构造近似三角形,根据正弦定理得出点C的法截线的法曲率的近似表达式;

构造Weingarten矩阵,计算出其特征值和特征向量;利用特征值和特征向量求出点C的主曲率;

采用相同方法,遍历点云数据中的各点,获得各点法向量及主曲率。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于易思维(杭州)科技有限公司,未经易思维(杭州)科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010093446.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top