[发明专利]基于点云信息的缺陷检测方法有效
申请号: | 202010093446.9 | 申请日: | 2020-02-14 |
公开(公告)号: | CN111311576B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 郭寅;尹仕斌;孙博;郭磊;刘方明 | 申请(专利权)人: | 易思维(杭州)科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310051 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 信息 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)对被测物表面的点云数据进行数据处理,获取各点的法向量及主曲率;
2)根据点云数据坐标的所在位置,将点云数据分割成n块局部点云;n取值为正整数;
3)选取其中一块局部点云记为第一点云;求取所述第一点云中各点主曲率的平均值,记为均值A;再利用均值A分别与第一点云中各点的法向量作内积运算,得到各点的内积值;对各点的内积值进行差分或卷积运算,将计算结果的绝对值记为各点的特征数;
若某点的特征数大于阈值I则将该点记为缺陷点,否则,记为正常点;
4)若n=1,直接进行步骤5);
否则去除所述第一点云,对剩余的局部点云,重复步骤3),直到遍历完所有点云数据;
5)将步骤2)~4)进行多次,每次分割得到的局部点云块数互不相同,在进行完最后一次后,判断同一点在多次分割过程中被记录为缺陷点的概率;
若概率大于预设概率B,则保持该点为缺陷点,否则将该点记为正常点;
遍历点云数据中的各点,再次标记每个点的类型,根据各点被标记的类型,得出被测物表面是否存在缺陷及缺陷存在的位置。
2.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:步骤2)~4)进行2~6次。
3.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:预设概率B取值30%~70%。
4.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:所述阈值I=3δ,δ表示当前块第一点云数据中各点特征数的标准差。
5.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:当被测物表面存在棱边、孔特征时,在步骤1)之前,首先利用以下方式对初始点云数据进行筛选:
将初始点云数据与标准数据进行模板匹配,得到棱边、孔特征区域上的点并剔除,将剩余的点云记为被测物表面的点云数据,进行步骤1)。
6.如权利要求1所述基于点云信息的缺陷检测方法,其特征在于:步骤1)获取各点法向量及主曲率的方法为:
在获取被测物表面的点云数据后,随机选取一点记为点C,利用kd树查找点C周围的10-40个点记为近邻点,根据最小二乘法将近邻点坐标拟合出第一平面,所述第一平面法向量记为点C的法向量初始值,利用加权平均对法向量初始值进行修正,得到最终的法向量;
利用点C及其法向量、其中一个近邻点及其法向量构造近似三角形,根据正弦定理得出点C的法截线的法曲率的近似表达式;
构造Weingarten矩阵,计算出其特征值和特征向量;利用特征值和特征向量求出点C的主曲率;
采用相同方法,遍历点云数据中的各点,获得各点法向量及主曲率。
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