[发明专利]基于格策尔算法的频谱确定方法、系统、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010093493.3 申请日: 2020-02-14
公开(公告)号: CN113267675B 公开(公告)日: 2023-01-10
发明(设计)人: 陈志鹏;施韵;彭聪聪 申请(专利权)人: 武汉市聚芯微电子有限责任公司
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16
代理公司: 成都元信知识产权代理有限公司 51234 代理人: 刘珍
地址: 430075 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道9*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 格策尔 算法 频谱 确定 方法 系统 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种基于格策尔算法的频谱确定方法,其特征在于,包括:

获取采样信号;

基于滑动窗口每次滑动点数对所述采样信号进行划分,以得到与所述滑动窗口对应的采样信号组;具体的,将N个采样信号以分组的形式进行划分,均分为L个组,每个组内存在M个采样信号,即L=N/M,L表示采样信号组的组数,也是迭代输出量的数量;N表示一次输入的采样信号的总数,也表示 Goertzel窗长;

对采样信号组进行遍历;

对遍历到的采样信号组的预设迭代过程系数进行置零处理;

基于置零处理后的预设迭代过程系数对遍历到的采样信号组进行格策尔迭代,以得到与遍历到的采样信号组对应的待选用迭代过程系数;

根据所述待选用迭代过程系数确定格策尔迭代的迭代输出量;

根据所述迭代输出量确定信号复频谱值;

所述根据所述迭代输出量确定信号复频谱值,具体包括:

将所述迭代输出量存入缓存输出量对应的缓存数组中;

对所述缓存数组进行累加,以获得信号复频谱值;

具体的,每个采样信号组计算出一个迭代输出量Yi,将迭代输出量Yi存入缓存数组BUFF[i]中的表达式如下:

WMK[i]表示傅里叶变换的旋转因子,i为序号;

信号复频谱计算公式为:

其中,YU表示信号复频谱值,通过上述信号复频谱计算公式对缓存数组进行累加,获得信号复频谱值。

2.根据权利要求1所述的基于格策尔算法的频谱确定方法,其特征在于,所述对采样信号组进行遍历,具体包括:

依序对包括有采样信号的采样信号组进行遍历,并将当前遍历到的采样信号组记为当前信号组;

所述基于置零处理后的预设迭代过程系数对遍历到的采样信号组进行格策尔迭代,以得到与遍历到的采样信号组对应的待选用迭代过程系数,具体包括:

基于置零处理后的预设迭代过程系数对所述当前信号组中的第一个采样信号进行格策尔迭代,以得到与所述第一个采样信号对应的迭代过程系数;

基于所述第一个采样信号对应的迭代过程系数进行格策尔迭代,以得到与所述当前信号组对应的待选用迭代过程系数。

3.根据权利要求2所述的基于格策尔算法的频谱确定方法,其特征在于,所述依序对包括有采样信号的采样信号组进行遍历,并将当前遍历到的采样信号组记为当前信号组之后,所述基于格策尔算法的频谱确定方法还包括:

从所述当前信号组中顺序获取当前采样信号;

若所述当前采样信号为所述当前信号组中的第一个采样信号,则对预设迭代过程系数进行置零处理。

4.根据权利要求2所述的基于格策尔算法的频谱确定方法,其特征在于,所述依序对包括有采样信号的采样信号组进行遍历,并将当前遍历到的采样信号组记为当前信号组之后,所述基于格策尔算法的频谱确定方法还包括:

从所述当前信号组中顺序获取当前采样信号;

所述基于所述第一个采样信号对应的迭代过程系数进行格策尔迭代,以得到与所述当前信号组对应的待选用迭代过程系数,具体包括:

基于所述第一个采样信号对应的迭代过程系数进行格策尔迭代;

若所述当前采样信号为所述当前信号组中的最后一个采样信号,则将最后一个采样信号对应的迭代过程系数作为与所述当前信号组对应的待选用迭代过程系数。

5.根据权利要求4所述的基于格策尔算法的频谱确定方法,其特征在于,所述基于所述第一个采样信号对应的迭代过程系数进行格策尔迭代之后,所述基于格策尔算法的频谱确定方法还包括:

若所述当前采样信号不为所述当前信号组中的第一个采样信号且不为所述当前信号组中的最后一个采样信号,则将所述当前采样信号的前一个采样信号对应的迭代过程系数作为新的预设迭代过程系数;

基于新的预设迭代过程系数对所述当前采样信号进行格策尔迭代,以得到与所述当前采样信号对应的迭代过程系数,并返回执行所述从所述当前信号组中顺序获取当前采样信号的步骤,直至若所述当前采样信号为所述当前信号组中的最后一个采样信号,则将最后一个采样信号对应的迭代过程系数作为与所述当前信号组对应的待选用迭代过程系数。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉市聚芯微电子有限责任公司,未经武汉市聚芯微电子有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010093493.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top