[发明专利]一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置在审
申请号: | 202010093667.6 | 申请日: | 2020-02-14 |
公开(公告)号: | CN111239504A | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 西安柯莱特信息科技有限公司 |
主分类号: | G01R29/12 | 分类号: | G01R29/12;G01N21/65 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 710000 陕西省西安市高新区高*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 表面 增强 散射 电场 测量 装置 | ||
1.一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置,其特征在于:包括主体(1),所述主体(1)的上方设置有光栅结构(2),所述光栅结构(2)的上方设置有微纳金属颗粒层(6)。
2.如权利要求1所述的一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置,其特征在于:所述光栅结构(2)是由多个周期排列的石英条制成。
3.如权利要求2所述的一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置,其特征在于:所述石英条之间的间隔为沟槽(3)。
4.如权利要求3所述的一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置,其特征在于:所述石英条包括第一石英条(2-1)、第二石英条(2-2),并且第一石英条(2-1)与第二石英条(2-2)间隔排列,第一石英条(2-1)与第二石英条(2-2)之间的沟槽(3)为第二沟槽(3-2),第二石英条(2-2)与第一石英条(2-1)之间的沟槽(3)为第一沟槽(3-1)。
5.如权利要求2所述的一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置,其特征在于:所述光栅结构(2)的排列周期为500nm~2000nm。
6.如权利要求1所述的一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置,其特征在于:所述光栅结构(2)的高度为40nm~200nm。
7.如权利要求4所述的一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置,其特征在于:所述微纳金属颗粒层(6)是由银制成。
8.如权利要求7所述的一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置,其特征在于:所述微纳金属颗粒层(6)的金属颗粒的形状为球形或正方体形或者三棱柱形。
9.如权利要求2所述的一种基于表面增强拉曼散射的电场测量的装置,其特征在于:所述主体(1)是由石英制成。
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