[发明专利]测量平台系统和测量系统

说明书

本申请公开了一种测量平台系统和测量系统，用于安装测量装置，其中，包括平台装置以及处理器装置，其中平台装置包括：箱体；设置于箱体表面的安装机构，用于安装测量装置；以及设置于箱体内的陀螺仪以及加速度计，其中陀螺仪和加速度计用于检测与测量装置的姿态和/或位置相关的位姿检测信息，并且处理器装置配置用于根据位姿检测信息，对测量装置所测量的测量信息进行校正。

技术领域

本申请涉及测量技术领域，特别是涉及一种测量平台系统和测量系统。

背景技术

在使用测量装置对被测物体进行测量的过程中，例如使用光管测量装置对被测物体的平行度或者角度检测的过程中，容易受到颤动、抖动等外界的干扰。尤其是在手持仪器进行测量时，受到手部的颤抖的影响，会使得测量装置的光轴的位置和角度都受到干扰，从而导致测量结果产生较大误差。此外，测量装置在安装固定过程中也可能会出现安装位置以及安装姿态的偏差，从而也容易导致测量结果产生较大误差。

对于由于测量装置的位置和角度偏差导致的测量结果产生较大误差的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本公开提供了一种测量平台系统和测量系统，以至少解决现有技术中存在的由于测量装置的位置和角度偏差导致的测量结果产生较大误差的技术问题。

根据本申请的实施例，提供了一种测量平台系统，用于安装测量装置。系统包括平台装置以及处理器装置。其中，平台装置包括：箱体；设置于箱体表面的安装机构，其中安装机构用于安装测量装置；以及设置于箱体内的陀螺仪以及加速度计，其中陀螺仪和加速度计用于检测与测量装置的姿态和/或位置相关的位姿检测信息。并且，处理器装置配置用于根据位姿检测信息，对测量装置所测量的测量信息进行校正。

可选地，陀螺仪包括彼此垂直设置的多个陀螺仪，并且加速度计包括彼此垂直设置的多个加速度计。

可选地，根据位姿检测信息，对测量装置所测量的测量信息进行校正的操作，包括：利用捷联惯导算法，根据位姿检测信息，确定测量装置的姿态信息和/或位置信息；以及利用所确定的姿态信息和/或位置信息，对测量的信息进行校正。

可选地，利用所确定的姿态信息和/或位置信息，对测量信息进行校正的操作，包括：利用所确定的姿态信息，对测量装置所测量的与被测物体的姿态相关的目标姿态信息进行校正。

可选地，平台装置还包括设置于箱体内的信号采集电路，信号采集电路与陀螺仪和加速度计连接，用于从陀螺仪和加速度计采集位姿检测信息。

可选地，箱体上设置有信号输出接口，信号输出接口与信号采集电路连接，并且处理器装置与信号输出接口连接。

可选地，处理器装置为设置于箱体内的处理器，并且箱体上设置有测量信息输入接口，其中测量信息输入接口用于接收测量装置采集的测量信息。并且其中，处理器配置用于：从测量信息输入接口接收测量装置采集的测量信息以及从陀螺仪和加速度计接收位姿检测信息；以及根据位姿检测信息，对测量信息进行校正。

可选地，根据位姿检测信息，对测量信息进行校正的操作，包括：利用捷联惯导算法，根据位姿检测信息，确定测量装置的姿态信息和/或位置信息；以及利用所确定的姿态信息和/或位置信息，对测量信息进行校正。

可选地，利用所确定的姿态信息和/或位置信息，对测量信息进行校正的操作，包括：利用所确定的姿态信息，对测量装置所测量的与被测物体的姿态相关的目标姿态信息进行校正。

可选地，箱体为长方体形状，并且多个陀螺仪分别设置于箱体的彼此垂直的箱体壁的内侧。

可选地，至少一个陀螺仪设置于设置有安装机构的箱体壁的内侧。

可选地，平台装置还包括手持部件，设置于箱体的外表面。