[发明专利]非接触姿态测量系统

权利要求书

1.一种非接触姿态测量系统，用于对被测物体的姿态进行测量，其特征在于，包括：

第一光学准直装置(10)，用于检测与设置于所述被测物体的第一测量面(S1)之间的对准状态，其中在所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)对准的情况下，所述第一光学准直装置(10)的轴线与所述第一测量面(S1)的法线平行；

第一姿态测量装置(20)，与所述第一光学准直装置(10)连接，用于测量与所述第一光学准直装置(10)的姿态相关的第一测量信息；以及

处理器装置(30)，与所述第一光学准直装置(10)以及所述第一姿态测量装置(20)通信连接，并且配置用于：在所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)对准的情况下，根据从所述第一姿态测量装置(20)接收的所述第一测量信息，确定所述被测物体的第一姿态信息，并且

非接触姿态测量系统还包括与所述处理器装置(30)通信连接的第二光学准直装置(40)和第二姿态测量装置(50)，其中

所述第二光学准直装置(40)用于检测与设置于所述被测物体的第二测量面(S2)之间的对准状态，其中在所述第二光学准直装置(40)与所述第二测量面(S2)对准的情况下，所述第二光学准直装置(40)的轴线与所述第二测量面(S2)的法线平行；

所述第二姿态测量装置(50)与所述第二光学准直装置(40)连接，用于测量与所述第二光学准直装置(40)的姿态相关的第二测量信息，并且

所述处理器装置(30)还配置用于：在所述第二光学准直装置(40)与所述第二测量面(S2)对准的情况下，根据从所述第二姿态测量装置(50)接收的所述第二测量信息，确定所述被测物体的第二姿态信息；以及

根据所述第一姿态信息和所述第二姿态信息，确定所述被测物体的完整的姿态信息，并且

所述第一光学准直装置(10)包括：光源(110)；图像采集单元(120)；设置于所述光源(110)前的第一分划板(130)；设置于所述图像采集单元(120)前的第二分划板(140)；以及光学系统，其中

所述光学系统用于将由所述光源(110)发射并且穿过所述第一分划板(130)的光源光投射到所述第一测量面(S1)上，以及将从所述第一测量面(S1)反射回的所述光源光经由所述第二分划板(140)投射到所述图像采集单元(120)，以及

所述图像采集单元(120)用于采集检测图像，其中所述检测图像包含所述第一分划板(130)的第一刻线的第一影像和所述第二分划板(140)的第二刻线的第二影像，并且所述处理器装置(30)还配置用于：

根据所述检测图像，判定所述第一影像与所述第二影像是否重合；以及

在所述第一影像与所述第二影像重合的情况下，判定所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)对准。

2.根据权利要求1所述的非接触姿态测量系统，其特征在于：所述第一光学准直装置(10)还用于生成第一对准信息，其中所述第一对准信息用于指示所述第一光学准直装置(10)与所述被测物体的第一测量面(S1)之间的对准状态，并且

所述处理器装置(30)还配置用于：在根据所述第一对准信息判定所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)对准的情况下，根据所述第一测量信息，确定所述第一姿态信息。

3.根据权利要求1所述的非接触姿态测量系统，其特征在于：所述第二光学准直装置(40)还用于生成第二对准信息，其中所述第二对准信息用于指示所述第二光学准直装置(40)与所述被测物体的第二测量面(S2)之间的对准状态，并且所述处理器装置(30)还配置用于：在根据所述第二对准信息判定所述第二光学准直装置(40)与所述第二测量面(S2)对准的情况下，根据所述第二测量信息，确定所述第二姿态信息。