[发明专利]一种近场微波显微镜介电常数测量标定的软接触实现方法有效
申请号: | 202010095658.0 | 申请日: | 2020-02-17 |
公开(公告)号: | CN111257647B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 彭斌;黄和;曾慧中;张万里;鞠量 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 吴姗霖 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 近场 微波 显微镜 介电常数 测量 标定 接触 实现 方法 | ||
1.一种近场微波显微镜介电常数测量标定的软接触实现方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、选择N个已知介电常数的样品,N≥3,按照介电常数由小到大的顺序将样品依次编号为1,2,3,…,N,对应的介电常数依次为εr1,εr2,εr3,…,εrN;
步骤2、将第1个样品放置于探针下方,设置步进电机的步长为a,a为步进电机的最小分辨步长,步进电机控制探针以步长a向样品方向移动,记录样品高度与对应高度下的谐振频率fr,直到显微镜判断探针与样品接触,停止探针的移动;
步骤3、根据步骤2记录的数据绘制谐振频率fr随样品高度H变化的曲线,然后进行一阶差分,得到相邻两点的谐振频率差值Δfr与高度H的变化曲线,将该变化曲线最高点右侧的次高点对应的Δfr确定为噪声标准K;
步骤4、控制探针离开样品大于10a的距离,设置步进电机的步长为a,a为步进电机的最小分辨步长,步进电机控制探针以步长a向样品方向移动,记录:谐振频率f(an)、上一步谐振频率f(an-1)、下一步谐振频率f(an+1);
步骤5、判断f(an+1)-f(an)与K之间的大小,若f(an+1)-f(an)<K,则探针继续移动;若f(an+1)-f(an)>K,则判断f(an+1)-f(an)与f(an)-f(an-1)之间的大小关系,若f(an+1)-f(an)>f(an)-f(an-1)则探针继续移动,若f(an+1)-f(an)<f(an)-f(an-1)则停止移动探针,记录此时的f(an+1),作为第1个样品软接触时的谐振频率f1;
步骤6、重复步骤4和步骤5的过程,依次对第2,3,…,N个样品进行测量,得到其对应的软接触时的谐振频率f2,f3,…fN;
步骤7、利用以下公式:
b=(εr-1)/(εr+1)
对介电常数εr1,εr2,εr3,…,εrN和软接触时的谐振频率f1,f2,f3,…fN,进行拟合,得到常数A以及修正空载谐振频率f0,完成对近场微波显微镜介电常数测量时的标定。
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