[发明专利]超薄光学元件弱变形点胶上盘装置及其方法在审
申请号: | 202010095830.2 | 申请日: | 2020-02-17 |
公开(公告)号: | CN111156235A | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 谢瑞清;张清华;刘民才;赵世杰;廖德锋;陈贤华;王健;许乔;田亮;王诗原;王宇 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | F16B11/00 | 分类号: | F16B11/00;C09J5/06;B24B41/06 |
代理公司: | 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 | 代理人: | 蒲敏 |
地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 超薄 光学 元件 变形 上盘 装置 及其 方法 | ||
1.超薄光学元件弱变形点胶上盘装置,其特征在于:包括箱体(1)、旋转台(2)、支撑杆(3)、背板(4)、挡块(6)、驱动电机(8)、制冷机(10)、散热器(11)、加热器(12)和风机(13),所述旋转台(2)设置在箱体(1)内部,在旋转台(2)上设置有支撑杆(3),在支撑杆(3)上设置有背板(4),在背板(4)上表面设置粘结胶点(5);在旋转台(2)上设置有多个挡块(6),挡块(6)的一端与背板(4)侧面贴靠在一起,挡块(6)的另一端与旋转台(2)连接;所述驱动电机(8)驱动旋转台(2)匀速旋转;在箱体(1)内部设置有散热器(11)、加热器(12)和风机(13),所述散热器(11)与制冷机(10)相连。
2.如权利要求1所述的超薄光学元件弱变形点胶上盘装置,其特征在于:在所述背板(4)上方还设置有呈矩阵分布的温度传感器(9)。
3.如权利要求1所述的超薄光学元件弱变形点胶上盘装置,其特征在于:在所述箱体(1)上还设置有箱体(1)内部工作温度的设定、驱动电机(8)的启停、监测光学元件(15)上方的温度传感器(9)的控制面板(14)。
4.如权利要求1所述的超薄光学元件弱变形点胶上盘装置,其特征在于:所述挡块(6)的另一端通过锁紧螺钉(7)与旋转台(2)连接。
5.如权利要求1所述的超薄光学元件弱变形点胶上盘装置,其特征在于:所述制冷机(10)设置在箱体(1)外部。
6.如权利要求1所述的超薄光学元件弱变形点胶上盘装置,其特征在于:所述背板(4)上的粘结胶点(5)呈矩阵式分布。
7.如权利要求1所述的超薄光学元件弱变形点胶上盘装置,其特征在于:在所述箱体(1)上设置有箱门(16)。
8.超薄光学元件弱变形点胶上盘方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)在背板(4)上表面均布放置粘结胶点(5),并在粘结胶点(5)上放置光学元件(15),使光学元件(15)与背板(4)四周对齐,从而组成背板-胶点-元件系统;2)将背板-胶点-元件系统放置于旋转台(2)上方的支撑杆(3)上,并使光学元件(15)中心与旋转台(2)中心重合,然后通过锁紧螺钉(7)锁紧档块(6)从而固定光学元件(15)的位置;3)关闭箱门(16),通过控制面板(14)控制驱动电机(8)的启动从而使旋转台(2)匀速旋转。
9.如权利要求8所述的超薄光学元件弱变形点胶上盘方法,其特征在于,步骤3后还有步骤:在控制面板(14)上设置加热温度、加热时间、保温时间、降温时间、降低温度,使背板-胶点-元件系统按照给定参数进行加热-保温-降温工作;当温度达到所设置的降低温度后,从箱体(1)中取出背板-胶点-元件系统并放置到抛光机中进行抛光加工;抛光结束后对光学元件(15)的加工精度进行检测,当光学元件(15)的加工精度达到指标要求后,将背板-胶点-元件系统再次放置到箱体(1)中;在控制面板(14)上设置下盘加热温度,对背板-胶点-元件系统进行加热,当箱体(1)内温度达到设定的下盘加热温度时,粘结胶点(5)已软化,打开箱门(16),取出光学元件(15);对光学元件(15)清洗后,对其表面精度进行重新检测,获得光学元件(15)下盘后最终的面形精度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心,未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010095830.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。