[发明专利]孔洞缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 202010096639.X 申请日: 2020-02-17
公开(公告)号: CN111208154A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 张莹;王小峰;苏广通;景佰亨;丁乐乐;何茂;韦俊垒 申请(专利权)人: 珠海市润星泰电器有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 珠海智专专利商标代理有限公司 44262 代理人: 黄国豪
地址: 519000 广东省珠海市前山镇界*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 孔洞 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.孔洞缺陷检测方法,其特征在于,包括:

阶梯标准规建立步骤,所述阶梯标准规建立步骤包括:参照目标实物的材质和厚度制作阶梯标准规,所述阶梯标准规上设置有多个不同厚度的阶梯层,每一个所述阶梯层上分别设置有多个不同孔径的孔洞;

检测步骤,所述检测步骤包括:将所述阶梯标准规与所述目标实物同时放置在X射线设备内,其中所述阶梯标准规中厚度与所述目标实物的厚度接近的阶梯层与所述目标实物放置在同一水平面上,调整管电压使目视影像至清晰状态,将所述阶梯标准规的X射线透照影像与所述目标实物的X射线透照影像进行比对,保存并记录影像资料。

2.根据权利要求1所述的孔洞缺陷检测方法,其特征在于:还包括校对步骤,所述校对步骤在所述检测步骤前进行;

所述校对步骤包括将所述阶梯标准规放置在X射线设备内,调整管电压使目视影像至清晰状态,保存并记录影像资料,记录所述清晰状态下所述管电压的数值,该影像资料为校对参照影像,在相同的所述管电压数值下,将所述校对参照影像的清晰度和后续所述阶梯标准规的X射线透照影像的清晰度进行比对。

3.根据权利要求1或2所述的孔洞缺陷检测方法,其特征在于:

每个所述阶梯层上的孔洞的数量相同,所述孔洞的孔径一一对应地相同,所述孔洞的深度一一对应地相同。

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