[发明专利]一种像素电路、显示基板和显示装置

说明书

本发明公开了一种像素电路、显示基板和显示装置，该像素电路包括驱动模块、检测模块、修复模块、原像素发光二极管和备用像素发光二极管；驱动模块连接原像素发光二极管和修复模块；原像素发光二极管连接检测模块和修复模块；修复模块连接备用像素发光二极管和所述检测模块；驱动模块连接有一栅极信号线和一数据信号线；其中，检测模块用于根据原像素发光二极管的输出信号，向修复模块输出控制信号；修复模块根据控制信号向备用像素发光二极管供电。本发明通过检测模块自动检测原像素发光二极管是否损坏，并使用备用的像素发光二极管替代原像素发光二极管，以达到修复像素的目的，从而保证了显示装置的显示效果。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及的是一种像素电路、显示基板和显示装置。

背景技术

发光二极管(Light Emitting Diode,LED)具有高亮度、高信赖性，因而在未来显示领域中有广泛应用,例如,微发光二极管(Micro Light Emitting Diode,Micro-LED)、迷你发光二极管(Mini Light Emitting Diode,MiniLED)。MicroLED、MiniLED在晶元(Wafer)上制作完成后，通过转印的方式焊接在背板上，背板提供电流驱动电路，电流流经MicroLED或MiniLED，使得MicroLED或MiniLED发光以实现显示功能。

相关技术中，一个子像素对应一颗LED芯片。但是，相关技术存在的问题在于，因转移LED芯片的数量巨大，当LED芯片转移失败或LED芯片损坏时即会导致显示暗点不良，从而影响MicroLED、MiniLED的显示，进而导致显示装置的显示效果较差。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种像素电路、显示基板和显示装置，以解决因LED芯片转印失败或LED芯片损坏时导致显示暗点不良而导致显示装置的显示效果较差的问题。

本发明的技术方案如下：

一种像素电路，该像素电路包括驱动模块、检测模块、修复模块、原像素发光二极管和备用像素发光二极管；所述驱动模块连接所述原像素发光二极管和所述修复模块；所述原像素发光二极管连接所述检测模块和所述修复模块；所述修复模块连接所述备用像素发光二极管和所述检测模块；所述驱动模块连接有一栅极信号线和一数据信号线；

其中，所述检测模块用于根据所述原像素发光二极管的输出信号，向所述修复模块输出控制信号；所述修复模块根据所述控制信号向所述备用像素发光二极管供电。

本发明的进一步地设置，所述驱动模块包括第一晶体管、第二晶体管和电容；所述第一晶体管的第一端连接所述数据信号线，所述第一晶体管的第二端连接所述第二晶体管的栅极端、所述电容的第一端和所述修复模块，所述第一晶体管的栅极端连接所述栅极信号线；所述第二晶体管的第一端连接所述电容的第二端和电源正极，所述第二晶体管的第二端连接所述原像素发光二极管的阳极。

本发明的进一步地设置，所述检测模块包括一第一电阻，所述第一电阻的第一端连接所述原像素发光二极管的阴极和所述修复模块，所述第一电阻的第二端连接电源负极。

本发明的进一步地设置，所述修复模块包括第三晶体管和第四晶体管；所述第三晶体管的第一端连接电源正极，所述第三晶体管的第二端连接所述第四晶体管的第一端，所述第三晶体管的栅极端连接所述电容的第一端；所述第四晶体管的第二端连接所述备用像素发光二极管的阳极，所述第四晶体管的栅极端连接所述检测模块。

本发明的进一步地设置，所述修复模块包括一第三晶体管，所述第三晶体管的第一端连接所述第二晶体管的第二端，所述第三晶体管的第二端连接所述备用像素发光二极管的阳极，所述第三晶体管的栅极端连接所述检测模块。