[发明专利]一种RFID标签弱标筛选功能的测试系统在审

专利信息
申请号: 202010098955.0 申请日: 2020-02-18
公开(公告)号: CN111126539A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 伯林;郑凯;王亮;萧惇仁;张兵;高飞 申请(专利权)人: 扬州久元电子有限公司
主分类号: G06K19/07 分类号: G06K19/07
代理公司: 扬州苏中专利事务所(普通合伙) 32222 代理人: 沈志海
地址: 225009 江苏省扬州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 rfid 标签 筛选 功能 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种RFID标签弱标筛选功能的测试系统,包括安装弱标筛选测试软件的电脑主机(6)、测试阅读器(4)、绑定机(7)和喷墨头(1);其特征在于:所述测试系统还包括宽带宽测试天线(3),所述电脑主机(6)的串口与所述测试阅读器(4)连接,所述测试阅读器(4)与所述宽带宽测试天线(3)连接,所述宽带宽测试天线(3)的正面设有发射天线(3-3),所述发射天线(3-3)的头部连接设有内圈引脚(3-2),所述发射天线(3-3)的尾部两端设有感抗调整金属线(3-4),所述宽带宽测试天线(3)的背面设有金属层(3-5),所述金属层(3-5)上设有电阻(3-6),所述金属层(3-5)的头部连接设有外圈引脚(3-1),所述内圈引脚(3-2)设置在所述外圈引脚(3-1)的中心,通过串口实现绑定机(7)与测试系统(5)的通讯,待检测标签(2)置于PET层(8)上方,所述宽带宽测试天线(3)设置在PET层(8)的下方,通过测试阅读器(4)对标签(2)进行全频扫频,产品频点设置为测试频点,设定一个或多个频点监控产品性能,通过测试良品标签在全频段下每个频点处最优灵敏度作为标准测试曲线,并将测试标签曲线与该标准曲线进行对比,筛选出性能不满足要求的标签,进行标记,实现弱标产品的筛选。

2.根据权利要求1所述的一种RFID标签弱标筛选功能的测试系统,其特征在于:所述宽带宽测试天线(3)是在厚度为1.6mm的PCB板,背面金属层是厚度为20um、长宽为53×80mm的铜箔,发射天线为20um、长宽为7×72mm的铜箔,增加感抗调整金属线调整测试天线频点。

3.根据权利要求1所述的一种RFID标签弱标筛选功能的测试系统,其特征在于:所述电阻(3-6)为50Ω的贴片电阻,测试带宽超80MHz,实现在790~970频段扫频测试结果与标签实际性能一致。

4.根据权利要求1所述的一种RFID标签弱标筛选功能的测试系统,其特征在于:所述外圈引脚(3-1)的数量为4个,相互连通形成方形结构,外圈引脚(3-1)与宽带宽测试天线(3)背面的金属层(3-5)连通。

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