[发明专利]存储器系统及其操作方法在审

专利信息
申请号: 202010099611.1 申请日: 2020-02-18
公开(公告)号: CN112214161A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 林敏洙 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王璇;张澜
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 存储器 系统 及其 操作方法
【权利要求书】:

1.一种存储器系统,包括:

存储器组,包括具有两种或更多种不同类型的多个存储器装置;以及

控制器,控制所述存储器组的数据输入和输出,

其中所述控制器包括擦洗控制器,所述擦洗控制器收集反映所述多个存储器装置中的每一个的劣化程度的健康信息,并且基于所述健康信息确定所述多个存储器装置中的每一个的擦洗间隔,所述擦洗间隔与所述劣化程度成比例地减小。

2.根据权利要求1所述的存储器系统,其中,当所述健康信息包括损耗均衡信息、弱单元信息以及错误检查和校正信息即ECC信息中的一个或多个时,

所述擦洗控制器基于所述健康信息中的一个或多个信息来确定所述擦洗间隔。

3.根据权利要求2所述的存储器系统,其中,当所述损耗均衡信息包括允许对所述多个存储器装置中的每一个进行的编程/擦除循环即P/E循环的数量和P/E循环的累计数量或者包括允许对所述多个存储器装置中的每一个进行的写入的数量和写入的累计数量时,

随着所述P/E循环的累计数量或累积写入的累计数量增加,所述擦洗控制器减小所述擦洗间隔。

4.根据权利要求2所述的存储器系统,其中,当所述弱单元信息包括弱单元的累计数量和关于包括所述弱单元的存储器区域的信息时,

随着所述弱单元的累计数量增加,所述擦洗除控制器减小所述存储器区域的擦洗间隔。

5.根据权利要求2所述的存储器系统,其中,当所述ECC信息包括错误位的累计数量和关于发生所述错误位的存储器区域的信息时,

随着所述错误位的累计数量增加,所述擦洗控制器减小所述存储器区域的擦洗间隔。

6.根据权利要求2所述的存储器系统,其中所述损耗均衡信息包括允许对所述多个存储器装置中的每一个进行的编程/擦除循环即P/E循环的数量和P/E循环的累计数量,或者包括允许对所述多个存储器装置中的每一个进行的写入的数量和累积写入的累计数量,

所述弱单元信息包括弱单元的累计数量和关于包括所述弱单元的存储器区域的信息,

所述ECC信息包括错误位的累计数量和关于发生所述错误位的存储器区域的信息,并且

在所述P/E循环的累计数量或写入的累计数量等于或大于第一阈值的状态下,当所述弱单元的累计数量或所述错误位的累计数量等于或大于第二阈值时,所述擦洗控制器减小所述擦洗间隔。

7.根据权利要求1所述的存储器系统,其中所述存储器组包括易失性存储器装置,

所述易失性存储器装置中的每一个的健康信息包括弱单元信息、错误检查和校正信息即ECC信息或两者,并且

所述擦洗控制器基于所述弱单元信息、所述ECC信息或两者确定所述易失性存储器装置中的每一个的擦洗间隔。

8.根据权利要求1所述的存储器系统,其中所述存储器组包括非易失性存储器装置,

所述非易失性存储器装置中的每一个的健康信息包括损耗均衡信息、弱单元信息以及错误检查和校正信息即ECC信息中的一个或多个,并且

所述擦洗控制器基于所述健康信息中的一个或多个信息来确定所述非易失性存储器装置中的每一个的擦洗间隔。

9.一种存储器系统的操作方法,所述方法包括:

收集反映所述存储器系统中包括的多个存储器装置中的每一个的劣化程度的健康信息;并且

基于所述健康信息确定所述多个存储器装置中的每一个的擦洗间隔,

其中所述擦洗间隔与所述劣化程度成比例地减小。

10.根据权利要求9所述的方法,其中所述健康信息包括损耗均衡信息、弱单元信息以及错误检查和校正信息即ECC信息中的一个或多个,并且

确定所述擦洗间隔包括基于所述健康信息的一个或多个信息来确定所述擦洗间隔。

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