[发明专利]使用安全机制的传感器系统有效
申请号: | 202010102591.9 | 申请日: | 2015-09-22 |
公开(公告)号: | CN111290368B | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | W·格拉尼格;D·哈默施密特 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李兴斌 |
地址: | 德国诺伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 安全 机制 传感器 系统 | ||
1.一种使用验证的传感器设备,所述设备包括:
传感器电路,包括:被配置成测量第一属性并且生成表示第一原始信号的第一数据的第一传感器,被配置成测量第二属性并且生成表示第二原始信号的第二数据的第二传感器,以及被配置成基于所述第一数据和所述第二数据来生成计算数据的数字信号处理器,所述传感器电路还包括:耦合到所述数字信号处理器的第一路径、耦合到所述第一传感器的第二路径以及耦合到所述第二传感器的第三路径;以及
验证电路,被实施在所述传感器电路外部的控制单元中,所述验证电路被配置为接收来自所述第二路径的所述第一数据、来自所述第三路径的所述第二数据和来自所述第一路径的所述计算数据,以及所述验证电路被耦合到所述第一传感器、所述第二传感器和所述数字信号处理器,以及其中所述验证电路被配置成分析所述第一数据和所述第二数据并且基于所述计算数据、所述第一数据和所述第二数据生成验证数据,
其中所述第一属性是磁场、通量、电压或温度中的一项,所述第二属性是磁场、通量、电压或温度中的另一项。
2.根据权利要求1所述的设备,
其中所述传感器电路被配置为使用独立的路径来生成所述第一数据和所述第二数据。
3.根据权利要求1所述的设备,其中所述传感器电路将所述第二数据的部分交错到具有所述第一数据的多个帧中,并且所述验证电路被配置成从所述多个帧的经交错的部分重新生成所述第二数据。
4.根据权利要求1所述的设备,其中所述传感器电路生成用于所述第二数据的多个子帧,并且所述验证电路被配置成从用于所述第二数据的所述多个子帧重新生成所述第二数据。
5.根据权利要求1所述的设备,其中所述验证电路被配置成基于所述第一数据和所述第二数据来标识故障。
6.根据权利要求5所述的设备,其中所标识的故障包括磁性损失检测或者欠电压检测。
7.根据权利要求1所述的设备,其中所述验证电路被配置成基于所述第一数据和所述第二数据来生成校准数据,以及向所述传感器电路提供所述校准数据。
8.根据权利要求1所述的设备,还包括控制单元,所述控制单元被耦合到所述传感器电路和所述验证电路并且被配置成选择由所述验证电路使用的多种验证技术。
9.根据权利要求8所述的设备,其中所述多种验证技术包括逐比特比较。
10.根据权利要求1所述的设备,其中所述计算数据包括角度计算。
11.一种验证传感器数据的方法,所述方法包括:
通过第一传感器使用第一路径获取第一数据,其中所述第一数据表示对应于由所述第一传感器测量的第一属性的第一原始信号;
通过第二传感器使用第二路径获取第二数据,其中所述第二路径独立于所述第一路径,其中所述第二数据表示对应于由所述第二传感器测量的第二属性的第二原始信号,其中所述第一属性是磁场、通量、电压或温度中的一项,所述第二属性是磁场、通量、电压或温度中的另一项;
从所述第一数据和所述第二数据生成计算数据并且在第三路径上提供所述计算数据;
通过控制单元经由接口接收所述计算数据、来自所述第一路径和所述第二路径的比较数据;以及
通过所述控制单元分析所述比较数据和所述计算数据,以生成验证数据。
12.根据权利要求11所述的方法,其中所述第一属性是磁场并且所述第二属性是温度。
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