[发明专利]一种应用于二维正交结构的漏波天线的传播常数的计算方法在审
| 申请号： | 202010103728.2 | 申请日： | 2020-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN111403916A | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 曾祥家;李元新;龙云亮 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | H01Q13/20 | 分类号： | H01Q13/20;H01Q1/38;H01Q1/50;G01R29/10;G06F30/20 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 黄启文 |
| 地址： | 510275 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 二维 正交 结构 天线 传播常数 计算方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种应用于二维正交结构的漏波天线的传播常数的计算方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：使用原用于一维周期漏波天线的宏元胞法，对其计算参数重新优化，得到应用于二维正交贴片结构的改进宏元胞法；
S2：通过双端口测量所述二维正交贴片漏波天线各个角度的散射参数；
S3：通过所述测得的散射参数，计算得到各个角度的传播常数。
2.根据权利要求1所述的一种应用于二维正交结构的漏波天线的传播常数的计算方法，其特征在于，所述二维正交贴片结构包括正交金属贴片辐射体(3)、金属地板(4)和馈电接头(6)。
3.根据权利要求1所述的一种应用于二维正交结构的漏波天线的传播常数的计算方法，其特征在于，所述通过双端口测量所述二维正交贴片漏波天线各个角度的散射参数包括通过位于天线中心和天线边缘的双端口获得天线的散射参数，包括S11、S12、S21、S22的实部值以及虚部值。
4.根据权利要求1所述的一种应用于二维正交结构的漏波天线的传播常数的计算方法，其特征在于，所述计算参数重新优化包括对计算参数中的周期单元间距和周期单元个数进行重新等效计算。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学，未经中山大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010103728.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
