[发明专利]高集成型分析物检测系统

权利要求书

1.一种高集成型分析物检测系统，其特征在于，包括：

底壳；

探头结构，所述探头结构与所述底壳互相卡合，所述探头结构包括探头和探头基座，所述探头包括信号输出端和检测端，所述信号输出端向靠近所述探头基座的顶部表面的方向弯曲或弯折，所述信号输出端表面至少设置两个互相绝缘的第一电连接区；和

发射器，所述发射器与所述底壳互相卡合，所述发射器设置有与所述第一电连接区相对应且互相绝缘的第二电连接区，每个所述第二电连接区与对应的所述第一电连接区电连接。

2.根据权利要求1所述的高集成型分析物检测系统，其特征在于，所述第二电连接区为金属触点。

3.根据权利要求1所述的高集成型分析物检测系统，其特征在于，所述信号输出端为平面结构，所述信号输出端平铺于所述探头基座顶部。

4.根据权利要求1所述的高集成型分析物检测系统，其特征在于，还包括密封环，所述密封环环绕设置于所述第一电连接区与所述第二电连接区电连接位置的周围。

5.根据权利要求1所述的高集成型分析物检测系统，其特征在于，所述底壳底面设置有安装孔，所述安装孔边缘设置有第一卡合部，所述探头基座边缘设置有第二卡合部，所述探头基座边缘的轮廓形状与所述安装孔边缘的轮廓形状相匹配，所述第一卡合部与所述第二卡合部互相卡合，所述安装孔边缘与所述探头基座边缘相互嵌合，所述探头基座安装于所述安装孔内。

6.根据权利要求1所述的高集成型分析物检测系统，其特征在于，还包括设置于所述第一电连接区与所述第二电连接区之间的第一弹性导电件。

7.根据权利要求6所述的高集成型分析物检测系统，其特征在于，所述第一弹性导电件包括导电区和绝缘区，相邻所述导电区之间间隔有所述绝缘区，所述导电区和所述绝缘区分别在纵向方向穿过所述第一弹性导电件。

8.根据权利要求7所述的高集成型分析物检测系统，其特征在于，所述导电区与所述绝缘区互相间隔设置，所述第一电连接区通过所述导电区与对应的所述第二电连接区电连接，相邻所述第一电连接区或者相邻所述第二电连接区之间间隔有所述绝缘区。

9.根据权利要求7所述的高集成型分析物检测系统，其特征在于，所述发射器上至少设置有两个第三电连接区，所述第三电连接区与所述探头基座之间设置有第二弹性导电件，与所述第二弹性导电件连接后，不同的所述第三电连接区之间电连接。