[发明专利]面部残留物检测方法及相关设备有效
申请号: | 202010105428.8 | 申请日: | 2020-02-20 |
公开(公告)号: | CN111325732B | 公开(公告)日: | 2023-07-11 |
发明(设计)人: | 王晶 | 申请(专利权)人: | 深圳数联天下智能科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/90;A61B5/00 |
代理公司: | 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276 | 代理人: | 王广涛 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 面部 残留物 检测 方法 相关 设备 | ||
本申请提供面部残留物检测方法及相关设备,其中,方法包括:获取经放大测肤仪器基于紫外光成像采集到的面部放大紫光图像;将所述面部放大紫光图像输入至面部残留物检测模型,以获取所述面部放大紫光图像对应的面部中的残留疑似物,以及所述残留疑似物在所述面部放大紫光图像中的位置;根据所述残留疑似物在所述面部放大紫光图像中的位置,在所述面部放大紫光图像中截取所述残留疑似物对应的局部图像;在根据所述局部图像确定所述残留疑似物符合预设的颜色条件和预设的形状条件的情况下,确定所述残留疑似物为所述面部中的残留物。通过该技术方案,可以实现对面部残留物的检测,并提高面部中残留物检测的精准度和准确性。
技术领域
本申请涉及物质检测领域,尤其涉及面部残留物检测方法及相关设备。
背景技术
容貌及外形一直是一个亘古不变的讨论话题,随着时代的发展,人们越来越关注自身的容貌及外形。特别是对于女性来说,更希望能够通过某些方式准确获知自己的面部皮肤状态以便能够进行有针对性地保养。因此,用于检测皮肤状态的各种测肤仪器应运而生。
目前,大多数测肤仪器主要是用于检测面部有无色斑、痘痘或者面部皮肤的干湿度情况等反映面部皮肤本身特性的一些皮肤情况,但是对于不属于面部皮肤自身的但肉眼难以识别的一些残留物,却未有相关技术方案。
发明内容
本申请提供面部残留物检测方法及相关设备,以解决目前未有检测面部残留物的相关技术方案的技术问题。
第一方面,提供一种面部残留物检测方法,该方法可以应用于测肤仪器或与测肤仪器相关联的设备上,该方法包括:获取经放大测肤仪器基于紫外光成像采集到的面部放大紫光图像;将面部放大紫光图像输入至残留物检测模型,以获取面部放大紫光图像对应的面部中的残留疑似物,以及残留疑似物在面部放大紫光图像中的位置;根据残留疑似物在面部放大紫光图像中的位置,在面部放大紫光图像中截取残留疑似物对应的局部图像;在根据残留疑似物对应的局部图像确定残留疑似物符合预设的颜色条件和预设的形状条件的情况下,确定前述残留疑似物为面部放大紫光图像对应的面部中的残留物。
在上述技术方案中,先通过获取经过放大测肤仪器基于紫光外成像采集到的面部放大紫光图像,将面部放大紫光图像输入到面部残留物检测模型中,获取到面部放大紫光图像中的残留疑似物,首先确定了面部中可能为残留物的物质;然后在面部放大紫光图像中截取残留疑似物对应的局部图像,并在根据残留疑似物对应的局部图像确定残留疑似物符合预设的颜色条件和预设的形状条件的情况下,确定残留疑似物确实为面部中的残留物,实现了面部中残留物的检测。为了防止面部残留物模型的检测度不够精准,通过进一步分析面部残留物检测模型检测出的残留疑似物(即残留物)的物质的颜色和形状特征,从而实现对残留物的进一步筛选和确认,提高了面部残留物检测的精确度和准确性。
结合第一方面,在一些可能的实现方式中,上述将面部放大紫光图像输入至残留物检测模型,以获取面部放大紫光图像对应的面部中的残留疑似物,以及残留疑似物在面部放大紫光图像中的位置的步骤,具体包括:基于面部残留物检测模型对应的至少一个图像备选区域,以及,面部残留物检测模型中的至少一个卷积特征层,提取面部放大紫光图像的局部图像特征,以得到用于表征面部放大紫光图像的局部图像特征的多个局部卷积特征图,图像备选区域用于在面部放大紫光图像中定位残留疑似物的位置;基于面部残留物检测模型中的类别识别层,识别各局部卷积特征图所属的特征图类别,特征图类别为残留疑似物特征或非残留疑似物特征图中的一种;根据各局部卷积特征图所属的特征图类别,确定面部放大紫光图像对应的面部中的残留疑似物,以及,该残留疑似物在面部放大紫光图像中的位置。基于卷积的方式提取用于表征面部放大紫光图像的局部图像特征的局部卷积特征图,并根据局部卷积特征图所属的特征图类别确定面部放大紫光图像对应的面部中的残留疑似物以及残留疑似物的位置,卷积的方式可以使得面部放大紫光图像中的多个像素能够共享卷积层中的部分参数,从而减少面部残留物检测模型中参数的数量,降低运算量,进而可以提高对残留疑似物和残留疑似物的位置的检测速度。
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