[发明专利]一种扫描镜监测系统及方法有效
申请号: | 202010108275.2 | 申请日: | 2020-02-21 |
公开(公告)号: | CN111190283B | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 周兴;王兆民;马宣;孙瑞;杨神武 | 申请(专利权)人: | 奥比中光科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G02B26/10 | 分类号: | G02B26/10;G01M11/00 |
代理公司: | 深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44578 | 代理人: | 田志立 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 扫描 监测 系统 方法 | ||
1.一种扫描镜监测系统,包括控制器和扫描装置,其特征在于:所述控制器包括处理器以及控制电路;所述扫描装置包括有光学发射器/接收器以及扫描组件;其中,
所述处理器用于向所述控制电路发送命令控制输出;所述控制电路接收所述扫描组件的信号并根据所述处理器的命令控制输出;
所述发射器/接收器用于向所述扫描组件发射光脉冲并接收扫描组件向外投射的光脉冲经反射后反馈回的光信息;
所述扫描组件用于将接收的光脉冲向外投射以及监测扫描装置的工作状态,并将监测信号发送至所述控制电路,所述扫描组件包括有安装框架、设置于安装框架上的扫描镜、触点以及与触点电性连接的监测电路,所述安装框架至少部分地被设置于扫描镜周围;所述扫描镜被配置为可进行二维偏转,以触碰所述触点,进而产生周期性信号;通过所述触点与所述监测电路的连接,由监测电路监测所述扫描镜进行二维偏转时的信号变化。
2.如权利要求1所述的扫描镜监测系统,其特征在于:所述扫描组件还包括有外框架,所述外框架至少部分被设置于所述安装框架的周围。
3.如权利要求2所述的扫描镜监测系统,其特征在于:所述外框架上设置有第一支撑元件、第二支撑元件、第一扭转臂以及第二扭转臂;其中,所述第一支撑元件通过所述第一扭转臂与所述外框架连接;所述第二支撑元件通过所述第二扭转臂与所述外框架连接,以用于支撑整个扫描组件。
4.如权利要求2所述的扫描镜监测系统,其特征在于:所述扫描组件还包括有第三扭转臂、第四扭转臂、第五扭转臂以及第六扭转臂;其中,所述扫描镜通过所述第三扭转臂和所述第四扭转臂与所述框架机械耦合,使得所述扫描镜可在所述第三扭转臂和所述第四扭转臂所在的中心轴上偏转振荡;所述安装框架通过所述第五扭转臂和所述第六扭转臂与所述外框架机械耦合,使得所述安装框架可在所述第五扭转臂和所述第六扭转臂所在的中心轴上偏转振荡。
5.如权利要求2所述的扫描镜监测系统,其特征在于:所述触点包括第一触点、第二触点、第三触点和第四触点;其中,所述第一触点设置于所述安装框架上,与所述监测电路连接;所述第二触点至少部分被设置于所述扫描镜上,与所述监测电路连接;所述第三触点设置于所述外框架上,与所述监测电路连接;所述第四触点至少部分被设置于所述安装框架上,与所述监测电路连接。
6.一种扫描镜监测方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1:控制发射器/接收器向扫描组件发射光脉冲,并接收扫描组件向外投射的光脉冲经反射后反馈回的光信息;
所述扫描组件包括有安装框架和设置于安装框架上的扫描镜,通过所述扫描镜二维偏转振荡将光脉冲向外投射;所述扫描组件还包括有触点和与触点电性连接的监测电路,随着扫描镜的偏转振荡,所述扫描镜触碰所述触点以产生周期性的信号;
步骤S2:控制监测电路监测所述扫描镜偏转振荡时的信号变化,并发送监测信号至控制电路;所述触点与所述监测电路的连接,由所述监测电路监测所述扫描镜进行二维偏转时的信号变化;
步骤S3:控制电路接收监测信号,对扫描组件的工作状态进行判断,从而对发射器/接收器以及扫描组件的工作状态进行调制。
7.如权利要求6所述的扫描镜监测方法,其特征在于:在步骤S1中,发射器/接收器在控制器的控制下发送光脉冲至扫描镜,扫描镜通过振荡偏转将光脉冲向外投射;其中,所述触点设置于所述安装框架上,在扫描镜的振荡偏转的过程中,扫描组件中的扫描镜以及安装框架不断触碰触点形成回路,进而产生周期性的信号。
8.如权利要求6或7所述的扫描镜监测方法,其特征在于:在步骤S2中,当扫描镜和安装框架正常工作时,监测电路监测出周期性的交变信号,而当扫描镜和安装框架异常工作时,监测电路监测出高电平或低电平信号。
9.如权利要求6或7所述的扫描镜监测方法,其特征在于:在步骤S2中,控制电路发送启动命令至监测电路,监测电路开启以监测扫描镜的工作状态情况。
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