[发明专利]一种硬盘性能测试方法、系统及装置在审
申请号: | 202010108473.9 | 申请日: | 2020-02-21 |
公开(公告)号: | CN111274078A | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 贠雄斌 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 侯珊 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硬盘 性能 测试 方法 系统 装置 | ||
1.一种硬盘性能测试方法,其特征在于,包括:
预先将服务器系统内各硬盘配置成满足于顺序写、随机写、顺序读、随机读四操作的硬盘;
在对任一所述硬盘进行预设测试时长的测试时,将所述服务器系统内的风扇从最低转速以固定增长速率增长至最高转速,并分别获取此硬盘在不同风扇转速下执行任一操作时的吞吐率和传感器温度值;
根据各所述硬盘对应的吞吐率和传感器温度值分析各所述硬盘的性能。
2.如权利要求1所述的硬盘性能测试方法,其特征在于,所述根据各所述硬盘对应的吞吐率和传感器温度值分析各所述硬盘的性能的过程,包括:
根据预设性能比值关系式(S2-S1)/S2×100%分别求取各所述硬盘在不同风扇转速下的性能比值;其中,S1表示硬盘在执行顺序写操作时的吞吐率,S2表示硬盘在执行随机读操作时的吞吐率;
将所述服务器系统内相邻位置的硬盘在同一风扇转速下的性能比值进行差值分析,得到各所述硬盘的操作稳定性;
分别将各所述硬盘对应的传感器温度值进行变化均衡性分析,得到各所述硬盘的温度稳定性。
3.如权利要求2所述的硬盘性能测试方法,其特征在于,所述硬盘性能测试方法还包括:
在确定一目标硬盘的操作不稳定之后,根据所述目标硬盘和操作稳定的硬盘在同一风扇转速下执行同一操作时的吞吐率的比较分析结果,确定所述目标硬盘的操作不稳定情况对应的具体风扇转速及操作。
4.如权利要求2所述的硬盘性能测试方法,其特征在于,所述硬盘性能测试方法还包括:
将每个所述硬盘在不同风扇转速下的性能比值和传感器温度值分别绘制成数据波形图,供测试人员查看。
5.如权利要求1所述的硬盘性能测试方法,其特征在于,各所述硬盘不同时测试,且不测试的硬盘处于Idle状态。
6.如权利要求1所述的硬盘性能测试方法,其特征在于,获取各所述硬盘的传感器温度值的过程,包括:
利用ipmitool工具分别读取各所述硬盘上的传感器温度值。
7.如权利要求1-6任一项所述的硬盘性能测试方法,其特征在于,所述硬盘性能测试方法还包括:
根据各所述硬盘在不同风扇转速下对应的吞吐率和传感器温度值及各所述硬盘和风扇的位置,确定适用于硬盘工作的风速范围;
根据所述风速范围调整所述硬盘和风扇的位置,以使各所述硬盘在所述风速范围下工作。
8.一种硬盘性能测试系统,其特征在于,包括:
硬盘配置模块,用于预先将服务器系统内各硬盘配置成满足于顺序写、随机写、顺序读、随机读四操作的硬盘;
数据获取模块,用于在对任一所述硬盘进行预设测试时长的测试时,将所述服务器系统内的风扇从最低转速以固定增长速率增长至最高转速,并分别获取此硬盘在不同风扇转速下执行任一操作时的吞吐率和传感器温度值;
性能分析模块,用于根据各所述硬盘对应的吞吐率和传感器温度值分析各所述硬盘的性能。
9.如权利要求8所述的硬盘性能测试系统,其特征在于,所述性能分析模块包括:
比值求取子模块,用于根据预设性能比值关系式(S2-S1)/S2×100%分别求取各所述硬盘在不同风扇转速下的性能比值;其中,S1表示硬盘在执行顺序写操作时的吞吐率,S2表示硬盘在执行随机读操作时的吞吐率;
操作分析子模块,用于将所述服务器系统内相邻位置的硬盘在同一风扇转速下的性能比值进行差值分析,得到各所述硬盘的操作稳定性;
温度分析子模块,用于分别将各所述硬盘对应的传感器温度值进行变化均衡性分析,得到各所述硬盘的温度稳定性。
10.一种硬盘性能测试装置,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于在执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述的硬盘性能测试方法的步骤。
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