[发明专利]超高次谐波测量方法、系统

权利要求书

1.一种超高次谐波测量方法，其特征在于，所述方法应用于超高次谐波测量系统，所述超高次谐波测量系统包括电能质量监测系统核心模块、通道切换模块、带通滤波器、单通道高速AD，所述方法包括以下步骤：

当所述电能质量监测系统核心模块在设定的等时间间隔点将采样数据环形缓存区的当前写环形缓存区指针切换到下一个采样数据环形缓存区之后，所述通道切换模块切换到下一个需要分析的采样通道，并由所述电能质量监测系统核心模块将下一个需要分析的采样数据环形缓存区打上对应的通道标签；

在信号通过所述通道切换模块后，所述带通滤波器滤除待分析超高次谐波频段信号之外的信号，并将待分析超高次谐波频段信号输入所述单通道高速AD；

所述电能质量监测系统核心模块触发所述单通道高速AD进行采样并读取采样数据，然后将采样数据存入采样数据环形缓存区，由所述电能质量监测系统核心模块对采样数据进行分析和统计，得到所述超高次谐波的频谱和时频图；

所述电能质量监测系统核心模块包括主处理芯片和内存，所述主处理芯片包括定时器、协处理器和主处理核，所述电能质量监测系统核心模块在设定的等时间间隔点将采样数据环形缓存区的当前写环形缓存区指针切换到下一个采样数据环形缓存区的步骤包括：

所述主处理核在设定的等时间间隔点将采样数据环形缓存区的当前写环形缓存区指针切换到下一个采样数据环形缓存区；

所述电能质量监测系统核心模块将下一个需要分析的采样数据环形缓存区打上对应的通道标签的步骤包括：

所述主处理核将下一个需要分析的采样数据环形缓存区打上对应的通道标签；

所述电能质量监测系统核心模块触发所述单通道高速AD进行采样并读取采样数据的步骤之前包括：

由所述定时器向所述协处理器输出触发脉冲，当所述协处理器监测到所述触发脉冲的上升沿时，由所述协处理器向所述单通道高速AD输出触发脉冲；

所述电能质量监测系统核心模块读取采样数据，然后将采样数据存入采样数据环形缓存区，由所述电能质量监测系统核心模块对采样数据进行分析，得到所述超高次谐波的频谱的步骤包括：

所述电能质量监控系统核心模块读取采样数据，并按循环存储模式将采样数据存储到当前写环形缓存区指针指定的环形缓存区中，并更新最新采样点在当前写环形缓存区中的位置；

由所述主处理核在低优先级的任务中查询当前读环形缓存区指针和当前写环形缓存区指针；

当当前读环形缓存区指针和当前写环形缓存区指针不一致时，由所述主处理核根据所述当前读环形缓存区指针和所述当前写环形缓存区指针获取需要分析处理的环形缓存区，并对所述需要分析处理的环形缓存区进行计算分析，得到所述超高次谐波的频谱，然后将当前读指针更新到已分析采样数据环形缓存区的下一个采样数据环形缓存区。

2.根据权利要求1所述的超高次谐波测量方法，其特征在于，所述需要分析处理的环形缓存区为从当前读环形缓存区指针指向的环形缓存区开始到当前写环形缓存区指针指向的环形缓存区的前一个环形缓存区结束；

对所述需要分析处理的环形缓存区进行计算分析，得到所述超高次谐波的频谱的步骤包括：

对所述需要分析处理的环形缓存区根据所述最新采样点在环形缓存区的位置，按照采样时间先后顺序对采样数据存储位置重新进行排列；

对重新排列后的需要处理的环形缓存区进行FFT计算分析，得到所述超高次谐波的频谱。

3.根据权利要求2所述的超高次谐波测量方法，其特征在于，对所述重新排列后的需要处理的环形缓存区进行FFT计算分析，得到所述超高次谐波的频谱的步骤之后包括：

由所述主处理核将计算分析结果根据环形缓存区对应的通道标签存入对应的通道结果中；

由所述主处理核将当前读环形缓存区指针更新到已处理环形缓存区之后的下一个环形缓存区。

4.根据权利要求3所述的超高次谐波测量方法，其特征在于，所述由所述主处理核将计算分析结果根据环形缓存区对应的通道标签存入对应的通道结果中的步骤之后还包括：

由所述主处理核根据各个通道的幅频特性对超高次谐波进行校准补偿。