[发明专利]SSD控制器复位的测试方法、装置和计算机设备

说明书

本申请涉及一种SSD控制器复位的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：通过devcon工具获取待测SSD控制器的硬件标识符；根据所述硬件标识符，利用devcon工具对待测SSD控制器进行禁用操作；检测待测SSD是否已被禁用成功；若所述待测SSD已被禁用成功，则利用devcon工具对所述待测SSD控制器进行启用操作；延时后检测所述待测SSD是否已被启用成功；若所述待测SSD已被启用成功，则循环执行上述禁用启用的步骤直至测试完成。本发明利用了免费工具devcon，编写批处理脚本就能实现对SSD进行高频次控制器复位测试的目的，大大降低了测试成本，且大大缩短了测试时间，有效地提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种SSD控制器复位的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着固态硬盘价格的下跌，固态硬盘越来越普及，NVMe SSD简称SSD以其优越的性能更是发展迅猛，各大电脑厂商纷纷将硬盘做成NVMe SSD。同时，针对SSD的各类调试软件工具也有许多，各家硬盘厂商甚至会有自定义的工具，且这些工具大多运行于Windows系统或Linux系统。

目前，在对SSD进行控制器复位(Controller Reset)的测试方法中，常用的方法之一是利用Ulink公司的DriveMaster软件，编写脚本来对SSD进行Controller Reset，但这种方法的缺点是需要购买DriveMaster软件，成本较高。此外，还可以通过对SSD进行热重启，休眠，睡眠或冷启动的方式来对SSD进行Controller Reset，但这几种方法的都用一个共同的缺点，就是每一轮的测试时间较长，通常每一轮需要10～20s左右，若需要进行的测试轮数较多时，所需测试时间较长(例如，若进行1000轮测试，则耗时8～24h左右)，从而加长了整个SSD产品的开发周期。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种在降低测试成本同时可以实现提高测试效率的SSD控制器复位的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种SSD控制器复位的测试方法，所述方法包括：

通过devcon工具获取待测SSD控制器的硬件标识符；

根据所述硬件标识符，利用devcon工具对待测SSD控制器进行禁用操作；

检测待测SSD是否已被禁用成功；

若所述待测SSD已被禁用成功，则利用devcon工具对所述待测SSD控制器进行启用操作；

延时后检测所述待测SSD是否已被启用成功；

若所述待测SSD已被启用成功，则循环执行上述禁用启用的步骤直至测试完成。

在其中一个实施例中，在所述检测待测SSD是否已被禁用成功的步骤之后还包括：

若所述待测SSD未被禁用成功，则停止测试并报错。

在其中一个实施例中，在所述延时后检测所述待测SSD是否已被启用成功的步骤之后还包括：

若所述待测SSD未被启用成功，则停止测试并报错。

在其中一个实施例中，在所述通过devcon工具获取待测SSD控制器的硬件标识符的步骤之前还包括：

在待测SSD作为从盘接入测试主机后，获取SSD控制器复位的测试请求；

根据所述测试请求运行批处理脚本，对待测SSD进行循环控制器复位测试。

一种SSD控制器复位的测试装置，所述装置包括：

获取模块，所述获取模块用于通过devcon工具获取待测SSD控制器的硬件标识符；