[发明专利]抗蚀剂底层组合物和使用所述组合物形成图案的方法有效
申请号: | 202010116537.X | 申请日: | 2020-02-25 |
公开(公告)号: | CN111665683B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 朴贤;崔有廷;权纯亨;裵信孝;白载烈 | 申请(专利权)人: | 三星SDI株式会社 |
主分类号: | G03F7/004 | 分类号: | G03F7/004;G03F1/76 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨贝贝;臧建明 |
地址: | 韩国京畿道龙仁*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 抗蚀剂 底层 组合 使用 形成 图案 方法 | ||
1.一种抗蚀剂底层组合物,包括
聚合物,包含由化学式1表示的结构单元;以及
溶剂:
[化学式1]
其中,在化学式1中,
L1到L5独立地为单键、经取代或未经取代的C1到C30亚烷基、经取代或未经取代的C6到C30亚芳基、经取代或未经取代的C1到C30亚杂烷基、经取代或未经取代的C3到C20亚环烷基、经取代或未经取代的C2到C20亚杂环烷基、经取代或未经取代的C1到C30亚杂烯基、经取代或未经取代的C2到C30亚杂芳基、经取代或未经取代的C2到C30亚烯基、经取代或未经取代的C2到C30亚炔基或其组合,
L6和L7独立地为O、S、S(O)、S(O2)、C(O)、C(O)O、OC(O)O、单键、经取代或未经取代的C1到C30亚烷基、经取代或未经取代的C6到C30亚芳基、经取代或未经取代的C1到C30亚杂烷基、经取代或未经取代的C3到C20亚环烷基、经取代或未经取代的C2到C20亚杂环烷基、经取代或未经取代的C1到C30亚杂烯基、经取代或未经取代的C2到C30亚杂芳基、经取代或未经取代的C2到C30亚烯基、经取代或未经取代的C2到C30亚炔基或其组合,
R1和R2独立地为氢、氘、卤素、羟基、氰基、硝基、氨基、环氧基、乙烯基、(甲基)丙烯酸酯基、氧杂环丁烷基、硫醇基、羧基、经取代或未经取代的C1到C30烷基、经取代或未经取代的C2到C30烯基、经取代或未经取代的C2到C30炔基、经取代或未经取代的C1到C10烷氧基、经取代或未经取代的C1到C30硫代烷基、经取代或未经取代的C3到C30环烷基、经取代或未经取代的C2到C20杂环烷基、经取代或未经取代的C6到C30芳基、经取代或未经取代的C6到C30芳氧基、经取代或未经取代的C6到C30硫代芳基、经取代或未经取代的C2到C30杂芳基或其组合,
n为1到1,000的整数中的一个,
D为O、S、S(O2)、C(O)或C(O)O,
m为0或1的整数,
*为连接点,
A1和A2独立地为O、S、S(O)、S(O2)、C(O)、C(O)O、OC(O)O、经取代或未经取代的C3到C10亚环烷基、经取代或未经取代的C2到C10亚杂环烷基、经取代或未经取代的C6到C30亚芳基、经取代或未经取代的C2到C30亚杂芳基或其组合,以及
A1和A2中的至少一个为由化学式A表示的基团:
[化学式A]
其中,在化学式A中,
La为单键、经取代或未经取代的C1到C30亚烷基、经取代或未经取代的C6到C30亚芳基、经取代或未经取代的C1到C30亚杂烷基、经取代或未经取代的C3到C20亚环烷基、经取代或未经取代的C2到C20亚杂环烷基、经取代或未经取代的C1到C30亚杂烯基、经取代或未经取代的C2到C30亚杂芳基、经取代或未经取代的C2到C30亚烯基、经取代或未经取代的C2到C30亚炔基或其组合,以及
*为连接点。
2.根据权利要求1所述的抗蚀剂底层组合物,其中A1和A2独立地为经取代或未经取代的C3到C10亚环烷基、经取代或未经取代的C2到C10亚杂环烷基、经取代或未经取代的C6到C30亚芳基、经取代或未经取代的C2到C30亚杂芳基或其组合。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星SDI株式会社,未经三星SDI株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010116537.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有膜电极、对电极、以及至少一个弹簧的传感器
- 下一篇:移动体和服务器装置