[发明专利]基于多探测模式电阻率测井的三维反演初始模型构建方法

权利要求书

1.一种基于多探测模式电阻率测井的三维反演初始模型构建方法，其特征在于，包括：

获取测井曲线，并基于所述测井曲线对目的层进行分层；

基于分层结果，对所述测井曲线中的视电阻率进行校正，得到真电阻率；所述分层结果包括分层得到的各地层以及每个地层的层厚；

对所述真电阻率进行克里金插值，并基于克里金插值得到的结果，对正演所需的有限元网格进行电阻率赋值；

所述基于分层结果，对所述测井曲线中的视电阻率进行校正，得到真电阻率，具体包括：

基于分层结果，对所述测井曲线中的视电阻率进行层厚-围岩影响校正；

对层厚-围岩影响校正后的视电阻率进行井眼影响校正；

对井眼影响校正后的视电阻率进行伪几何因子约束校正，得到真电阻率。

2.根据权利要求1所述的基于多探测模式电阻率测井的三维反演初始模型构建方法，其特征在于，所述基于所述测井曲线对目的层进行分层，具体包括：

对所述测井曲线中的视电阻率进行方差分析，确定所述测井曲线的拐点和半幅点，将所述拐点和所述半幅点处对应的位置作为所述目的层的界面；或者，

基于所述测井曲线中的视电阻率与所述目的层的预设电阻率，将所述测井曲线中与预设电阻率相同的视电阻率对应的位置进行归并，以对所述目的层进行分层；或者，

基于统计方法，对所述目的层进行分层。

3.根据权利要求1所述的基于多探测模式电阻率测井的三维反演初始模型构建方法，其特征在于，所述基于分层结果，对所述测井曲线中的视电阻率进行层厚-围岩影响校正，具体包括：

建立基于多探测模式电阻率测井的多层地层模型，并基于所述多层地层模型，正演出不同地层的层厚及不同地层的电阻率变化时的视电阻率并建立层厚-围岩影响校正图版；

基于分层结果，确定所述目的层内中间地层的层厚，并根据所述层厚-围岩影响校正图版，对所述测井曲线中的视电阻率进行层厚-围岩影响校正。

4.根据权利要求1所述的基于多探测模式电阻率测井的三维反演初始模型构建方法，其特征在于，所述对层厚-围岩影响校正后的视电阻率进行井眼影响校正，具体包括：

建立基于多探测模式电阻率测井的多层地层模型，并基于所述多层地层模型，正演出不同地层电阻率变化时的视电阻率并建立井眼影响校正图版；

根据所述井眼影响校正图版，对层厚-围岩影响校正后的视电阻率进行井眼影响校正。

5.根据权利要求1所述的基于多探测模式电阻率测井的三维反演初始模型构建方法，其特征在于，所述对井眼影响校正后的视电阻率进行伪几何因子约束校正，得到真电阻率，具体包括：

基于井眼影响校正后的视电阻率，通过伪几何因子公式以及目标约束条件确定不同探测模式下的侵入带电阻率，并将所述侵入带电阻率作为所述真电阻率。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的基于多探测模式电阻率测井的三维反演初始模型构建方法，其特征在于，所述对所述真电阻率进行克里金插值，并基于克里金插值得到的结果，对正演所需的有限元网格进行电阻率赋值，具体包括：

将所述真电阻率进行预处理，得到每个纵向水平面的面电阻率，并基于每个所述面电阻率计算实验变异函数并对所述实验变异函数进行拟合，得到理论变异函数；

基于所述理论变异函数确定用于进行克里金插值的权系数，并基于所述权系数对所述真电阻率进行克里金插值；

确定正演所需的有限元网格，并基于克里金插值得到的结果，对所述有限元网格进行电阻率赋值。