[发明专利]一种测试机延迟补偿方法、系统及测试机

权利要求书

1.一种测试机延迟补偿方法，其特征在于，测试机中用于对外连接的各信号管脚处于开路状态；每个信号管脚通过其所在的信号线与测试机芯片的一个芯片管脚电连接；所述测试机延迟补偿方法包括：

所述测试机芯片向信号管脚发送测试信号；

所述测试信号通过信号线传输至所述信号管脚处后，沿着相反的方向反射回所述测试机芯片；

所述测试机芯片接收所述信号管脚反射回的测试反射信号；

所述测试机芯片根据所述测试信号、及所述测试反射信号，获取所述信号管脚的传输延迟；

所述测试机芯片获取到所有信号管脚的传输延迟后，从各信号管脚的传输延迟数据中，选取时间最长的传输延迟作为延迟参考；

所述测试机芯片根据所述延迟参考，补偿各信号管脚的信号延迟。

2.根据权利要求1所述的一种测试机延迟补偿方法，其特征在于，所述测试信号为正弦波信号或余弦波信号。

3.根据权利要求1或2所述的一种测试机延迟补偿方法，其特征在于，所述根据所述测试信号、所述测试反射信号，获取所述信号管脚的传输延迟具体包括：

获取所述测试信号的相位、频率信息；

统计所述信号管脚反射回的测试反射信号的相位信息；

计算所述信号管脚的测试反射信号与所述测试信号的相位差；

计算所述测试信号在所述信号线中的传输速率；；

根据所述测试反射信号与所述测试信号的相位差，及所述测试信号的频率信息、所述测试信号在所述信号线中的传输速率，计算出所述测试信号发送至所述信号管脚的传输延迟。

4.根据权利要求3所述的一种测试机延迟补偿方法，其特征在于，

所述测试信号在所述信号线中的传输速率C的计算公式为：C＝c/e＾(1/2)；

所述测试信号发送至信号管脚的传输延迟Y的计算公式为：Y＝C*(m-n)/(f*2*π)；其中：

C表示所述测试信号在所述信号线中的传输速率；

c表示电磁波在真空中的传播速度；

e表示为布置有所述信号线的测试机PCB板的有效介电常数；

m表示所述测试信号的相位；

n表示信号管脚反射回的测试反射信号的相位；

f表示所述测试信号的频率。

5.根据权利要求1所述的一种测试机延迟补偿方法，其特征在于，根据所述延迟参考，补偿各信号管脚的信号延迟具体包括：

根据所述延迟参考及各信号管脚的传输延迟，计算出每个信号管脚的补偿延迟；所述补偿延迟为所述延迟参考与所述传输延迟的差值；

在测试机芯片输出信号时，根据每个信号管脚的补偿延迟，为每个信号管脚补偿相应的时延。

6.一种测试机延迟补偿系统，其特征在于，包括：测试机芯片，用于对外连接的各信号管脚；且各信号管脚处于开路，所述每个信号管脚通过其所在的信号线与测试机芯片的一个芯片管脚电连接；所述测试机芯片包括：驱动器、接收器、控制模块；所述驱动器与接收器均与所述测试机芯片的各芯片管脚电连接；且所述驱动器与接收器还与所述控制模块电连接；其中：

所述测试机芯片的驱动器向信号管脚发送测试信号；

所述测试信号通过信号线传输至所述信号管脚处后，沿着相反的方向反射回所述测试机芯片；

所述测试机芯片的接收器接收所述信号管脚反射回的测试反射信号；

所述控制模块根据所述测试信号、及所述测试反射信号，获取所述信号管脚的传输延迟；

所述控制模块从各信号管脚的传输延迟数据中，选取时间最长的传输延迟作为延迟参考；

所述控制模块根据所述延迟参考，补偿各信号管脚的信号延迟。

7.根据权利要求5所述的一种测试机延迟补偿系统，其特征在于，所述测试信号为正弦波信号或余弦波信号。