[发明专利]基于相关性融合网络的多源遥感图像的逐像素分类方法有效
申请号: | 202010117270.6 | 申请日: | 2020-02-25 |
公开(公告)号: | CN111291826B | 公开(公告)日: | 2023-06-06 |
发明(设计)人: | 马文萍;周晓波;朱浩;李龙伟;武越 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06V10/774 | 分类号: | G06V10/774;G06V10/764;G06V10/762;G06T7/11;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 高博 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 相关性 融合 网络 遥感 图像 像素 分类 方法 | ||
1.基于相关性融合网络的多源遥感图像的逐像素分类方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、从数据集中读入多光谱影像,包括已配准后的PAN和MS图像数据,以及对应只有部分区域的类标ground truth图;
S2、标记边缘样本;
S3、分别对PAN和MS图像进行预处理,选取训练集和测试集;
S4、构造多源遥感图像逐像素分类的融合网络模型,具体为:
S401、由于PAN图是MS图的四倍,所以PAN图先经过一层步长为2的5*5卷积与步长为2的最大池化,而MS经过一层3*3卷积与最大池化操作,但步长为1,此时两者的特征块的尺寸与通道数将相同,以便后续的特征融合;
S402、特征融合与进一步提取模块,PAN与MS两支路上分别包括三个残差块,每个残差块由残差和直接映射两支路组成,每个残差块的直接映射部分由一层均值池化与一层1*1卷积组成,均值池化用于匹配残差部分输出的尺寸,1*1卷积用于匹配残差部分输出的通道数,设对于MS支路的第一个残差块的输入为先经过一层1*1卷积降维得到然后分别经过步长为2的3*3的传统卷积与3*3的自适应卷积;将两个卷积输出进行通道维度上的合并,再经过一层1*1卷积进行特征融合与升维得到残差支路的输出,自适应卷积核来自对方PAN支路相对应的第一个残差块输入的部分输入,具体为:
先计算与的通道相关性矩阵RMS*PAN如下:
其中,matirx()表示对图像特征块的每一通道拉成一行向量,形成具有C行的矩阵,C为图像特征块具有的通道总数;
然后比较得到的每一个通道与的各个通道的相关性的最大值;再取最大值中k个值所对应的的通道索引,k设置为的一半通道数,将通道上特征图全部置零得到即只融合与自身相关性较高的特征;然后将通过自适应池化为3*3尺寸,再通过1*1卷积降维得到最后将其作为卷积核与待卷积的图像进行分组卷积;
S403、将MS与PAN的特征提取支路的输出拉成一维向量并合并,再经过三层全连接层与一层softmax分类层,PAN图支路参数:第一层:5*5卷积层,步长为2,输入通道数1,输出通道数64;第二层:3*3最大池化层,步长为2;
残差块一参数:直接映射支路:均值池化层,步长为2;1*1卷积层,步长为1,输入通道数64,输出通道数128;
残差支路:1*1卷积层,步长为1,输入通道数64,输出通道数32;3*3卷积层,步长为2,输入通道数32,输出通道数32;3*3自适应卷积层,步长为2,输入通道数32,输出通道数32;3*3卷积层与3*3自适应卷积层通道维合并;1*1卷积层,步长为1,输入通道数64,输出通道数128;
残差块二参数:直接映射支路:均值池化层,步长为2;1*1卷积层,步长为1,输入通道数128,输出通道数256;残差支路:1*1卷积层,步长为1,输入通道数128,输出通道数64;3*3卷积层,步长为2,输入通道数64,输出通道数64;3*3自适应卷积层,步长为2,输入通道数64,输出通道数64;3*3卷积层与3*3自适应卷积层通道维合并;1*1卷积层,步长为1,输入通道数128,输出通道数256;
残差支路:1*1卷积层,步长为1,输入通道数256,输出通道数128;3*3卷积层,步长为2,输入通道数128,输出通道数128;3*3自适应卷积层,步长为2,输入通道数128,输出通道数128;3*3卷积层与3*3自适应卷积层通道维合并;1*1卷积层,步长为1,输入通道数256,输出通道数512;
MS图支路参数:第一层:3*3卷积层,步长为1,输入通道数4,输出通道数64;第二层:3*3最大池化层,步长为1;三个残差块参数与PAN支路相同;全连接层一:输入4096节点,输出512节点;全连接层二:输入512节点,输出128节点;全连接层三:输入128节点,输出样本类别数节点;
S5、构造网络损失函数;
S6、用训练数据集对分类模型进行训练,得到训练好的分类模型;
S7、利用训练好的分类模型对测试数据集进行分类,得到测试数据集中每个像素点的类别。
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