[发明专利]物证勘察设备

权利要求书

1.一种物证勘察设备，其特征在于，包括基座(10)、显微镜(20)和位置调节机构；

其中，所述基座(10)能够固定在物体表面，且所述基座(10)和所述显微镜(20)均与所述位置调节机构连接，所述位置调节机构用于调节所述显微镜(20)与所述基座(10)的相对位置，且所述显微镜(20)能够相对所述基座(10)沿平行于所述基座(10)与物体表面接触的固定面的方向移动。

2.根据权利要求1所述的物证勘察设备，其特征在于，所述位置调节机构能够带动所述显微镜(20)相对所述基座(10)沿X轴移动；和/或，所述位置调节机构能够带动所述显微镜(20)相对所述基座(10)沿Y轴移动；和/或，所述位置调节结构能够带动所述显微镜(20)相对所述基座(10)绕Y轴旋转；和/或，所述位置调节机构能够带动所述显微镜(20)相对所述基座(10)沿Z轴移动；

其中，X轴垂直于Y轴，且X轴和Y轴均平行于所述基座(10)与物体表面接触的固定面；Z轴平行于所述显微镜(20)的镜头的轴线。

3.根据权利要求2所述的物证勘察设备，其特征在于，所述位置调节机构包括X轴移动架(30)、Y轴移动架(40)和Y轴旋转架(50)；

所述基座(10)上开设有沿X轴延伸的X轴滑槽，所述X轴移动架(30)与所述X轴滑槽滑动配合；或，所述X轴移动架(30)与所述基座(10)滑动配合，所述基座(10)上固定设置有沿X轴延伸的X轴齿条(102)，所述X轴移动架(30)上安装有X轴齿轮，所述X轴齿轮与所述X轴齿条(102)啮合；

所述Y轴移动架(40)与所述X轴移动架(30)滑动配合，所述X轴移动架(30)上安装有Y轴齿轮，所述Y轴移动架(40)上固定设置有沿Y轴延伸的Y轴齿条(401)，所述Y轴齿轮与所述X轴移动架(30)转动配合，所述Y轴齿轮与所述Y轴齿条(401)啮合；

所述Y轴旋转架(50)与所述Y轴移动架(40)转动配合，且所述Y轴旋转架(50)能够相对所述Y轴移动架(40)绕Y轴旋转；

所述显微镜(20)与所述Y轴旋转架(50)滑动配合，所述Y轴旋转架(50)上安装有Z轴齿轮，所述Z轴齿轮与所述Y轴旋转架(50)转动配合，所述显微镜(20)上固定设置有沿Z轴延伸的Z轴齿条(201)，所述Z轴齿条(201)与所述Z轴齿轮啮合。

4.根据权利要求3所述的物证勘察设备，其特征在于，所述X轴移动架(30)上开设有锁紧螺纹孔，所述锁紧螺纹孔内穿设有锁紧螺丝，所述锁紧螺丝能够与所述基座(10)的表面抵接；当所述锁紧螺丝与所述基座(10)的表面抵接时，所述X轴移动架(30)与所述基座(10)相对固定；

和/或，所述X轴移动架(30)上开设有第一阻尼螺纹孔，所述第一阻尼螺纹孔内穿设有第一阻尼螺丝，所述第一阻尼螺丝的端部与所述基座(10)的表面抵接；当驱动所述X轴移动架(30)沿X轴移动的外力为零时，所述X轴移动架(30)与所述基座(10)相对固定；当驱动所述X轴移动架(30)沿X轴移动的外力大于零时，所述第一阻尼螺丝与所述X轴滑槽之间存在滑动摩擦力；

和/或，所述Y轴旋转架(50)上开设有第二阻尼螺纹孔，所述第二阻尼螺纹孔内穿设有第二阻尼螺丝，所述第二阻尼螺丝的端部与所述Y轴移动架(40)的表面抵接；当驱动所述Y轴旋转架(50)绕Y轴旋转的外力为零时，所述Y轴旋转架(50)与所述Y轴移动架(40)相对固定；当驱动所述Y轴旋转架(50)绕Y轴旋转的外力大于零时，所述第二阻尼螺丝与所述Y轴移动架(40)之间存在滑动摩擦力；

和/或，所述Y轴旋转架(50)上安装有Z轴限位块，所述Z轴限位块与所述显微镜(20)的表面抵接，用于限制所述显微镜(20)相对所述Y轴旋转架(50)的晃动。

5.根据权利要求3所述的物证勘察设备，其特征在于，所述X轴移动架(30)上设置有X轴调节手轮(303)，所述X轴调节手轮(303)与所述X轴齿轮同轴固定；

和/或，所述X轴移动架(30)上设置有Y轴调节手轮(301)，所述Y轴调节手轮(301)与所述Y轴齿轮同轴固定；

和/或，所述Y轴旋转架(50)上设置有Z轴调节手轮(501)，所述Z轴调节手轮(501)与所述Z轴齿轮同轴固定。