[发明专利]光器件、使用光器件的光模块和用于光器件的测试方法有效
申请号: | 202010119323.8 | 申请日: | 2020-02-26 |
公开(公告)号: | CN111694115B | 公开(公告)日: | 2022-01-18 |
发明(设计)人: | 杉山昌树 | 申请(专利权)人: | 富士通光器件株式会社 |
主分类号: | G02B6/42 | 分类号: | G02B6/42 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 刘久亮;黄纶伟 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 器件 使用 模块 用于 测试 方法 | ||
1.一种光器件,该光器件包括:
光发送器电路,该光发送器电路形成在基板中;
第一端口,该第一端口用于在服务期间从所述基板的边缘输出由所述光发送器电路生成的光信号,并且在测试期间从所述基板的边缘输入测试光;以及
光检测器,该光检测器用于检测从所述第一端口输入的所述测试光,
其中,使用光纤将所述测试光输入到所述第一端口,并且根据所述光检测器的检测结果,评估所述第一端口的光纤连接损耗。
2.根据权利要求1所述的光器件,该光器件还包括:
第一光子波导,该第一光子波导将所述第一端口连接到所述光发送器电路;以及
抽头波导,该抽头波导被设置到所述第一光子波导,
其中,所述光检测器连接到所述抽头波导。
3.根据权利要求1所述的光器件,该光器件还包括:
第二光子波导和第三光子波导,该第二光子波导和第三光子波导在所述第一端口和所述光发送器电路之间分支;
第一定向耦合器,该第一定向耦合器被设置到所述第二光子波导;以及
第二定向耦合器,该第二定向耦合器被设置到所述第三光子波导,
其中,所述光检测器包括连接到所述第一定向耦合器的第一光检测器和连接到所述第二定向耦合器的第二光检测器。
4.根据权利要求3所述的光器件,该光器件还包括:
第一测试焊盘,该第一测试焊盘连接至所述第一光检测器;以及
第二测试焊盘,该第二测试焊盘连接到所述第二光检测器,
其中,所述第一测试焊盘和所述第二测试焊盘被设置在所述光器件的与和所述光发送器电路的光调制器的输出连接的电极焊盘阵列相同的边缘上。
5.根据权利要求3所述的光器件,该光器件还包括:
第一测试焊盘,该第一测试焊盘连接至所述第一光检测器;以及
第二测试焊盘,该第二测试焊盘连接到所述第二光检测器,
其中,所述第一测试焊盘和所述第二测试焊盘被设置在所述光器件的边缘上,该边缘与所述光器件的其上设置有和所述光发送器电路的光调制器的输出连接的电极焊盘阵列的边缘相对。
6.根据权利要求1所述的光器件,该光器件还包括:
第二光子波导和第三光子波导,该第二光子波导和该第三光子波导在所述第一端口和所述光发送器电路之间分支;
第一定向耦合器,该第一定向耦合器被设置到所述第二光子波导;以及
第二定向耦合器,该第二定向耦合器被设置到所述第三光子波导,
其中,所述光检测器包括:
第一监测式检测器,该第一监测式检测器连接到所述第一定向耦合器并且用于在服务中监测所述光信号的第一部分并在测试期间检测所述测试光的第一部分,以及
第二监测式检测器,该第二监测式检测器连接到所述第二定向耦合器并且用于在服务中监测所述光信号的第二部分并在测试期间检测所述测试光的第二部分。
7.根据权利要求6所述的光器件,
其中,所述第一定向耦合器的光子波导形成包括所述第一监测式检测器的第一闭合光路,并且
其中,所述第二定向耦合器的光子波导形成包括所述第二监测式检测器的第二闭合光路。
8.根据权利要求3所述的光器件,
其中,所述第一定向耦合器和所述第二定向耦合器中的至少一个是2×2光耦合器。
9.根据权利要求6所述的光器件,
其中,所述第一定向耦合器和所述第二定向耦合器中的至少一个是2×2光耦合器。
10.一种光模块,该光模块包括:
根据权利要求1所述的光器件;以及
光源,该光源用于向所述光器件提供光。
11.一种光模块,该光模块包括:
根据权利要求1所述的光器件;以及
电路芯片,该电路芯片连接到所述光器件。
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