[发明专利]一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法有效

专利信息
申请号: 202010121050.0 申请日: 2020-02-26
公开(公告)号: CN111412864B 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 肖梅;张雷;杨冰;王海明;徐婷 申请(专利权)人: 长安大学
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01N3/56;G06K9/38
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 贺小停
地址: 710064*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 灰度 相似性 磨痕角 自动检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,对采集得到的彩色磨斑图像进行灰度化处理,得到灰度磨斑图像;

步骤2,在步骤1中得到的灰度磨斑图像上任意选取一像素,并在该像素的上方构建邻域;

步骤3,根据步骤2中得到的邻域计算倾斜角方向的灰度差;

步骤4,根据步骤3中得到的倾斜角方向的灰度差计算行灰度变化;

步骤5,根据步骤4中得到的行灰度变化计算行接近角;

步骤6,根据步骤5中得到的行接近角计算行接近角的出现频率;

步骤7,在步骤6中计算得到的行接近角的出现频率选取高频出现的多个接近角;

步骤8,根据步骤7中得到的高频出现的多个接近角计算磨痕角。

2.根据权利要求1所述的一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法,其特征在于,步骤2中,构建的邻域的大小为W×2W;构建得到的邻域的像素集为所述邻域边界上的多个像素点,且每个像素点满足下式中的任一式:

{(k,l)|i-W≤k≤i and l=j+W}

{(k,l)|i-W≤k<i and l=j-W}

{(k,l)|k=i-W and j-W≤l≤j+W}

其中,W为邻域的尺寸。

3.根据权利要求1所述的一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法,其特征在于,步骤3中,根据步骤2中得到的邻域计算倾斜角方向的灰度差,具体方法是:

将步骤2中任意选取的像素(i,j)和所构建的邻域中的某一像素(k,l)之间的直线与行轴正向之间所成的角定义为像素(i,j)与其邻域像素的倾斜角α;

通过下式计算像素(i,j)与其邻域上倾斜角α方向的像素(k,l)之间的灰度差:

其中,[]为四舍五入的取整运算;α的取值范围为0°≤α<180°;M为磨斑图像F的像素尺寸。

4.根据权利要求3所述的一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法,其特征在于,通过下式计算倾斜角α:

5.根据权利要求1所述的一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法,其特征在于,步骤4中,根据步骤3中得到的倾斜角方向的灰度差计算行灰度变化,具体方法是,通过下式计算倾斜角为α的第i行灰度变化:

其中,W为邻域的尺寸;M为磨斑图像F的像素尺寸;h(i,j,α)为倾斜角方向的灰度差。

6.根据权利要求1所述的一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法,其特征在于,步骤5中,根据步骤4中得到的行灰度变化计算行接近角,具体方法是:

其中,β(i)为第i行的接近角;H(i,α)表示倾斜角为α的第i行灰度变化。

7.根据权利要求1所述的一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法,其特征在于,步骤6中,根据步骤5中得到的行接近角计算行接近角的出现频率,具体方法是:

其中,n(β(i))表示行接近角为β(i)的总行数,小于等于观测行的总行数[0.9M]-[0.1M]+1;M为磨斑图像F的像素尺寸;β(i)为第i行的接近角;P(β(i))为行接近角的出现频率。

8.根据权利要求1所述的一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法,其特征在于,步骤7中,在步骤6中计算得到的行接近角中选取高频出现的多个行接近角,该多个行接近角的选取为:将步骤6中得到的行接近角的出现频率按照从大到小的顺序进行依次相加,t取最小值并满足下式,则该t个行接近角为高频出现的多个行接近角:

其中,T为频率选择阈值,0<T≤1;βt为第t个行接近角;P(βt)为第t个行接近角的出现频率。

9.根据权利要求1所述的一种基于磨痕灰度相似性的磨痕角自动检测方法,其特征在于,步骤8中,根据步骤7中得到的高频出现的多个行接近角计算磨痕角,具体方法是:

其中,θ为磨痕角;P(βt)为第t个行接近角的出现频率;βt为第t个行接近角。

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