[发明专利]一种高亮度红外光发光二极管管芯的制备方法及二极管管芯在审
申请号: | 202010126602.7 | 申请日: | 2020-02-28 |
公开(公告)号: | CN113328013A | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 徐晓强;程昌辉;王梦雪;闫宝华 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/14 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 赵龙群 |
地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 亮度 红外光 发光二极管 管芯 制备 方法 二极管 | ||
1.一种高亮度红外光发光二极管管芯的制备方法,具体步骤如下:
(1)晶片减薄:在生长有外延层的晶片正面使用光刻胶进行保护,背面使用腐蚀液进行化学抛光,抛光完成后进行去胶清洗;
(2)欧姆接触层和电极层制作:将步骤(1)完成的晶片通过金属蒸发,依次在上表面依次完成欧姆接触层、P面电极,在下表面完成晶片背面N面电极的制作;
(3)电极图形制作:在步骤(2)完成的晶片上表面和下表面同时甩胶,然后分别对正面和背面进行曝光、通过一次显影制作出P面电极和N面电极的掩膜图形;使用腐蚀液将P面电极和N面点金图形腐蚀出来;然后进行去胶清洗;
(4)管芯切割:将上述步骤(3)完成的晶片,使用锯片机将晶片切割成单个管芯,此时管芯位于粘性膜上,且晶片背面与粘性膜接触,晶片正面朝上;
(5)粗化:将步骤(4)完成的芯片放置在热板上进行烘烤,使用粗化液对芯片正面和侧壁进行粗化;然后将芯片进行一次倒膜,使芯片正面与粘性膜接触,芯片背面朝外,使用粗化液对芯片背面进行粗化,然后再次倒膜,使芯片正面朝外,整个管芯过程完成。
2.根据权利要求1所述的高亮度红外光发光二极管管芯,其特征在于:步骤(1)中,生长有外延层的晶片结构从下到上依次为GaAs衬底、N型GaAs、N型限制层、MQW量子阱层、P型限制层、P型GaAs、P型GaP接触层,其中晶片背面为GaAs衬底,晶片正面为P型GaP接触层。
3.根据权利要求1所述的高亮度红外光发光二极管管芯,其特征在于:步骤(1)中,腐蚀液优选为硫酸、双氧水和水的混合溶液,腐蚀液比例为硫酸:双氧水:水=5:1:1,其中硫酸的密度为1.84g/ml,含量为95%以上,双氧水的密度为1.11g/ml,含量为30%以上;腐蚀液需要在恒温环境下进行,温度优选为70℃,时间为5min。
4.根据权利要求1所述的高亮度红外光发光二极管管芯,其特征在于:步骤(2)中,欧姆接触层使用AuBe进行制作,厚度为1000-5000埃,P电极使用Pt、Au金属进行制作,厚度为2-4微米;N面电极使用Ge、Au金属制作,厚度为2000-5000埃。
5.根据权利要求1所述的高亮度红外光发光二极管管芯,其特征在于:步骤(2)中,中欧姆接触层和P电极为一次蒸镀完成,N面电极单独蒸镀一次;
步骤(2)中,欧姆接触层和P电极的蒸镀使用常温进行,N面电极蒸镀使用290-310℃进行蒸镀。
6.根据权利要求1所述的高亮度红外光发光二极管管芯,其特征在于:步骤(3)中,晶片正面光刻胶的厚度为4-6微米,背面光刻胶的厚度为1微米。
7.根据权利要求1所述的高亮度红外光发光二极管管芯,其特征在于:步骤(3)中,腐蚀液使用碘、碘化钾和水的混合溶液;
步骤(3)中,N面点金图形的形状优选为圆形或多边形,圆形点金的直径为20-30微米,且点金图形为均匀分布。
8.根据权利要求3所述的高亮度红外光发光二极管管芯,其特征在于:步骤(5)中,烘烤温度为80℃,时间为3min;粗化液为冰乙酸和硝酸的混合溶液,体积比:冰乙酸:硝酸=3:1;正面和背面的粗化时间均为10-20秒之间。
9.根据权利要求3所述的高亮度红外光发光二极管管芯,其特征在于:以上所有步骤1-5涉及到的金属材料的纯度要求为4N级及以上。
10.一种根据权利要求1所述的高亮度红外光发光二极管管芯的制备方法制得的二极管管芯,由下向上依次为粘性膜、N面电极、GaAs衬底、外延层、欧姆接触层、P面电极;所述外延层由下至上包括N型GaAs、N型限制层、MQW量子阱层、P型限制层、P型GaAs、P型GaP接触层。
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