[发明专利]像素电路、发光器件老化的检测补偿方法及显示基板在审
申请号: | 202010128180.7 | 申请日: | 2020-02-28 |
公开(公告)号: | CN111312129A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 王铸;于子阳;胡谦;李嵬卿 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G3/3225 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 电路 发光 器件 老化 检测 补偿 方法 显示 | ||
1.一种像素电路,其特征在于,包括像素驱动电路、检测电路、重置电路以及发光器件;其中,
所述像素驱动电路与栅线、数据线、发光信号线以及所述发光器件分别连接,配置为根据所述栅线提供的扫描信号、所述数据线提供的数据信号、以及所述发光信号线提供的发光控制信号,驱动所述发光器件发光;
所述检测电路与所述发光器件、检测信号线和读取信号线分别连接,配置为根据所述检测信号线提供的检测信号,读取所述发光器件在发光状态下的阳极电位,并传输至所述读取信号线;
所述重置电路与重置信号线、所述读取信号线分别连接,配置为根据所述重置信号线提供的重置信号,对所述读取信号线进行重置。
2.根据权利要求1所述的像素电路,其特征在于,所述像素电路设置于衬底上,且所述读取信号线与所述数据线异层设置;
所述读取信号线在衬底上的正投影与所述数据线在所述衬底上的正投影不交叠。
3.根据权利要求1所述的像素电路,其特征在于,所述读取信号线和所述数据线为同一条信号线,且所述信号线分时复用为所述数据线或所述读取信号线。
4.根据权利要求3所述的像素电路,其特征在于,所述读取信号线与所述像素驱动电路中的晶体管的第一极或第二极异层设置。
5.根据权利要求1所述的像素电路,其特征在于,
所述检测电路包括第一晶体管,所述第一晶体管的控制极与所述检测信号线连接,所述第一晶体管的第一极与所述发光器件的阳极连接,所述第一晶体管的第二极与所述读取信号线连接;
所述重置电路包括第二晶体管,所述第二晶体管的控制极与所述重置信号线连接,所述第二晶体管的第一极与重置电压端连接,所述第二晶体管的第二极与所述读取信号线连接。
6.根据权利要求1~5任一项所述的像素电路,其特征在于,
所述像素驱动电路包括输入子电路、存储子电路以及发光控制子电路;其中,
所述输入子电路与所述栅线、所述数据线、所述存储子电路、所述发光控制子电路分别连接,配置为在所述扫描信号的控制下,将所述数据信号写入所述存储子电路;
所述发光控制子电路还与所述发光信号线、所述存储子电路、所述发光器件的阳极分别连接,配置为在所述发光控制信号的控制下,将所述存储子电路存储的所述数据信号输出至所述阳极,驱动所述发光器件发光。
7.根据权利要求6所述的像素电路,其特征在于,所述像素驱动电路还包括复位子电路;
所述复位子电路与复位信号线、初始电压端、所述存储子电路、所述发光控制子电路、所述发光器件的阳极分别连接,配置为在所述复位信号提供的复位信号的控制下,对所述存储子电路、所述发光控制子电路和所述发光器件的阳极进行复位。
8.一种发光器件老化的检测补偿方法,其特征在于,应用于如权利要求1所述的像素电路,所述方法包括:检测阶段;所述检测阶段包括重置阶段、发光阶段和读取阶段;
在重置阶段,所述重置电路对所述读取信号线进行重置;
在发光阶段,根据所述栅线提供的扫描信号、所述数据线提供的数据信号、以及所述发光信号线提供的发光控制信号,所述像素驱动电路驱动所述发光器件发光;
在读取阶段,所述检测电路在所述检测信号的控制下,读取所述发光器件在发光状态下的阳极电位,并传输至所述读取信号线。
9.根据权利要求8所述的发光器件老化的检测补偿方法,其特征在于,所述方法还包括补偿阶段;
在补偿阶段,根据所述读取信号线读取的所述发光器件的阳极电位,确定所述发光器件对应的补偿电压,并根据所述补偿电压调节所述数据线的数据信号,以对所述发光器件的老化进行补偿。
10.一种显示基板,其特征在于,包括多个像素单元,每个像素单元中设有如权利要求1~7任一项所述的像素电路。
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