[发明专利]硬件木马版图检测方法、装置、电子设备和可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202010129610.7 申请日: 2020-02-28
公开(公告)号: CN111340788A 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 王力纬;侯波;雷登云;孙宸;恩云飞 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/10;G06F21/76;G06T5/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 黄丽
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 硬件 木马 版图 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种硬件木马版图检测方法,其特征在于,包括:

获取集成电路的实物版图对应的第一图像和设计版图对应的第二图像,所述第一图像和所述第二图像为同质图;

对所述第一图像进行分割处理得到多个第一布局结构图像,对所述第二图像进行分割处理得到多个第二布局结构图像;

对多个所述第一布局结构图像进行特征提取得到第一形状特征信息;对多个所述第二布局结构图像进行特征提取得到第二形状特征信息;

根据所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息获取版图检测信息。

2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述根据所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息获取版图检测信息,包括:

利用距离度量算法获取所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息的相似度;

根据所述相似度获取所述版图检测信息。

3.根据权利要求2所述的检测方法,其特征在于,所述版图检测信息包括硬件木马信息和版图合格信息,所述根据所述相似度获取所述版图检测信息,包括:

当所述相似度小于相似度阈值,根据所述第一形状特征信息、所述第二形状特征信息和预存病毒信息获取所述硬件木马信息;

当所述相似度大于或等于所述相似度阈值时,生成所述版图合格信息。

4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,所述根据所述第一形状特征信息、所述第二形状特征信息和预存的病毒特征信息获取所述硬件木马信息,包括:

根据所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息的差异提取所述实物版图中的病毒特征信息;

将所述实物版图中的病毒特征信息和所述预存病毒信息进行对比确定出所述硬件木马信息。

5.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述获取集成电路的实物版图对应的第一图像和设计版图对应的第二图像,包括:

利用扫描电子显微镜采集所述集成电路的实物版图对应的微观图像;

基于循环一致性生成式对抗网络获取所述微观图像和所述设计版图各自对应的互连线特征,基于卷积神经网络获取所述微观图像和所述设计版图各自对应的孔特征;

根据所述微观图像对应的互连线特征和孔特征获取所述第一图像;根据所述设计版图对应的互连线特征和孔特征获取所述第二图像。

6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,所述根据所述微观图像对应的互连线特征和孔特征获取所述第一图像,包括:

根据所述微观图像对应的所述互连线特征和所述孔特征生成第一初步异质图像;

基于版图检查工具对所述初步异质图像进行修正获取所述第一图像。

7.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,

所述对所述第一图像进行分割处理得到多个第一布局结构图像,包括:

按照所述第一图像中集成电路的层次进行分割得到多个所述第一布局结构图像;

所述对所述第二图像进行分割处理得到多个第二布局结构图像,包括:

按照所述第二图像中集成电路的层次进行分割得到多个所述第二布局结构图像。

8.一种硬件木马版图检测装置,其特征在于,包括:

第一获取模块,用于获取集成电路的实物版图对应的第一图像和设计版图对应的第二图像,所述第一图像和所述第二图像为同质图;

分割模块,用于对所述第一图像进行分割处理得到多个第一布局结构图像,对所述第二图像进行分割处理得到多个第二布局结构图像;

提取模块,用于对多个所述第一布局结构图像进行特征提取得到第一形状特征信息;对多个所述第二布局结构图像进行特征提取得到第二形状特征信息;

第二获取模块,用于根据所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息获取版图检测信息。

9.一种电子设备,包括存储器及处理器,所述存储器中储存有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述的检测方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

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