[发明专利]射频测试系统线损测量设备及方法

说明书

本发明提供一种射频测试系统线损测量设备及方法，通过将整个射频测试系统的线路系统的两端分别接到所述网分的两个端口所连接的第一标准线上，测量并记录所述线路系统的线损值LossArray_Cable；将第二标准线的一端连接所述网分，将第二标准线的另一端连接到安捷伦的功率计的测量探头上，控制所述网分发射第一信号，从所述安捷伦的功率计读取第一信号值，记为LossArray_PowerMeter；将安捷伦的功率计的测量探头接到综测仪的测量端口上，控制综测仪发射的第二信号，从所述功率计端读取第二信号值作为LossArray_Base，用LossArray_Base减去LossArray_PowerMeter得到LossArray_InterLoss；根据如下公式LossArray_Cable+LossArray_InterLoss计算整个射频测试系统的线损值，实现简单、高效、可靠的对射频测试系统的线损值进行测量。

技术领域

本发明涉及计算机领域，尤其涉及一种射频测试系统线损测量设备及方法。

背景技术

工厂的射频测试系统大致是由综测仪、射频连接线、屏蔽箱、测试夹具这几部分串联而成，所谓射频测试系统的线损，指的就是这几部分组件的线损之和(线路系统的线损+综测仪的内损)。其中，射频连接线的线损、屏蔽箱上的射频转接头的线损和测试夹具上的射频头的线损共同构成线路系统的线损值S21，可以通过将他们串联起来用网分进行测量；还有一部分线损来自于综测仪的内损。

而综测仪的内损最为复杂，需要使用网分、功率计、综测仪交叉测量才能测量得到，其中，三种仪表中，只有网分可以将内损自校为0，所以网分是唯一可以用来当做参考标准的仪表，首先使用网分+功率计的组合，通过用网分发出某一固定大小的信号给功率计测量，通过标定值与实测值的差异，得出功率计的内损；然后再使用综测仪+功率计的组合，通过用综测仪发出某一固定大小的信号给功率计测量，通过标定值与实测值的差值运算得出这个组合的内损，减去刚计算出来的功率计的内损，就是综测仪的内损。最终整个射频测试系统的线损就明朗了。

现有的测量线损的方案主要有两种：

第一种，就是金板校准，一般来自于射频部门的工程师。射频工程师假定了自己调试产品的环境是理想环境，并在此环境中制作出golden sample(金板)，让产线使用此golden sample反校准出线损的大小，成为金板校准；

第二种，就是忽略综测仪的内损只做上述线路系统的线损值S21的测量，即仅执行前述的线路系统的线损测量。

上述第一种现有的方案中，金板校准的方法比较适合批量快速校准线损，但金板本身的精度不可能达到绝对理想的状态，主要原因是金板制作环境的线损值都是经验值，而不是绝对测量值。尤其是金板制作环境中的综测仪的内损与产线综测仪的内损绝对是不同的，当产线仪表的内损大于金板制作环境中仪表的内损时，金板反校准出来的线损就有可能是负值。但线损应该是客观存在的，即必须为正值，所以金板校准局限性比较大。

另外，上述第二种现有的方案中，忽略综测仪内损的线损测量方法则更不可取了，因为在整个系统线损不大的情况下，仪表内损所占比例是比较大的，此时忽略仪表内损，将对待测产品产生比较大的影响。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种射频测试系统线损测量设备及方法。

根据本发明的一个方面，提供了一种射频测试系统线损测量设备，该方法包括：

网分，所述网分的两个端口通过第一标准线分别连接整个射频测试系统的线路系统的两端；

安捷伦的功率计，所述安捷伦的功率计的测量探头通过第二标准线连接所述网分；

综测仪，所述综测仪的测量端口与所述安捷伦的功率计的测量探头连接。

进一步的，上述设备中，所述网分的型号为安捷伦的E5071C。