[发明专利]一种验证PCIe模组的方法

说明书

本发明公开了一种验证PCIe模组的方法，包括测试主板，测试主板上安装有电源开关、PCIe控制器、记忆体和结果显示器，PCIe控制器分别连接记忆体、结果显示器，PCIe控制器通过PCIe接口连接待测物连接器，待测物连接器连接PCIe待测模组，PCIe待测模组通过电流检测单元连接PCIe控制器，本发明通过特定方式对PCIe待测模组进行测试，并检查出模组的不良与过电流，透过此方法减低了量产检测的难度与成本。

技术领域

本发明涉及PCIe模组技术领域，具体为一种验证PCIe模组的方法。

背景技术

PCI-Express(peripheral component interconnect express)是一种高速串行计算机扩展总线标准，它原来的名称为“3GIO”，是由英特尔在2001年提出的，旨在替代旧的PCI，PCI-X和AGP总线标准。PCIe属于高速串行点对点双通道高带宽传输，所连接的设备分配独享通道带宽，不共享总线带宽，主要支持主动电源管理，错误报告，端对端的可靠性传输，热插拔以及服务质量(QOS)等功能。PCIe交由PCI-SIG（PCI特殊兴趣组织）认证发布后才改名为“PCI-Express”，简称“PCI-e”。它的主要优势就是数据传输速率高，目前最高的16X2.0版本可达到10GB/s，而且还有相当大的发展潜力。PCI Express也有多种规格，从PCIExpress x1到PCI Express x32，能满足将来一定时间内出现的低速设备和高速设备的需求。

对于目前PCIe模组开发设计后导入量产时，需要针对PCIe链路进行测试与确认其信号品质，往往需要使用电脑与高阶仪器做测试与校正，此开发的设备费用极为昂贵，高阶设备用于确认传输与接收信号是否良好并测出极限范围，电脑设备用于确认接口协议是否符合规范，但在生产过程中的不良品会发生短路或缺陷，进而造成检测设备的损坏，造成巨大的损失。

发明内容

本发明的目的在于提供一种验证PCIe模组的方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种验证PCIe模组的方法，包括测试主板，所述测试主板上安装有电源开关、PCIe控制器、记忆体和结果显示器，所述PCIe控制器分别连接记忆体、结果显示器，所述PCIe控制器通过PCIe接口连接待测物连接器，所述待测物连接器连接PCIe待测模组，所述PCIe待测模组通过电流检测单元连接PCIe控制器。

优选的，一种验证PCIe模组的方法，所述记忆体采用NOR Flash或NAND Flash。

优选的，一种验证PCIe模组的方法，包括以下步骤：

A、当电源开关打开后，控制程序便会载入到PCIe主控中，并使其运行，此时会将初始状态与运行状态实时的表示在结果显示器上；

B、当PCIe主控中的程序运行时，会对PCIe待测模组先进行电流检测，电流确认后便会开始做传输与接收特性的检测；

C、当PCIe控制器开始传输资料后待测物模组会去接收料并做分析，并将相关资料分析后回传给PCIe控制器，再由控制器去判断测试结果是否为通过。

优选的，所述PCIe控制器所传输的资料包含以下参数：传输速率、信号振幅大小、信号抖动。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明通过特定方式对PCIe待测模组进行测试，并检查出模组的不良与过电流，透过此方法减低了量产检测的难度与成本。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明流程图。

具体实施方式