[发明专利]运放测试系统和方法

权利要求书

1.一种运放测试系统，其特征在于，包括：

待测运算放大器；

第一电容采样单元，所述第一电容采样单元的第一输入端接地，所述第一电容采样单元的第二输入端与所述待测运算放大器的反相输入端电连接，所述第一电容采样单元的输出端与所述待测运算放大器的反相输入端电连接，用于接收低电平电压信号和共模电压信号，并提供给所述待测运算放大器的反相输入端；

第二电容采样单元，所述第二电容采样单元的第一输入端接地，所述第二电容采样单元的第二输入端与所述待测运算放大器的同相输入端电连接，所述第二电容采样单元的输出端与所述待测运算放大器的同相输入端电连接，用于接收所述低电平电压信号和所述共模电压信号，并提供给所述待测运算放大器的同相输入端；

辅助测试环路，与所述待测运算放大器电连接，用于在测试阶段，当第一电容采样单元中的采样电容接入待测运算放大器的同相输入端，或者当第二电容采样单元中的采样电容接入待测运算放大器的反相输入端，并经过预设延迟时间后，采样并记录采样点的时间坐标和所述待测运算放大器的输出电压；以及

计算单元，与所述辅助测试环路电连接，用于接收所述待测运算放大器的输出电压，并根据多个所述采样点的时间坐标和所述待测运算放大器的输出电压计算所述待测运算放大器的偏置电流。

2.如权利要求1所述的运放测试系统，其特征在于，

所述辅助测试环路，还用于在测试之前，当第一电容采样单元中的采样电容接入待测运算放大器的同相输入端，或者当第二电容采样单元中的采样电容接入待测运算放大器的反相输入端后，周期性检测所述待测运算放大器的输出电压，并持续预设时长；

所述计算单元，还用于根据在所述预设时间内检测到多个所述待测运算放大器的输出电压，确定所述预设延迟时间。

3.如权利要求2所述的运放测试系统，其特征在于，用于根据在所述预设时间内检测到多个所述待测运算放大器的输出电压，确定所述预设延迟时间的所述计算单元，具体用于：

根据斜率计算终止时刻t_e和起始时刻t_s分别对应的所述待测运算放大器的输出电压，计算t_e时刻与t_s时刻之间的输出电压的斜率G₀，其中，t_s＝t_e-Δt，Δt为检测所述待测运算放大器的输出电压的周期；

令t_e＝t_e-Δt，t_s＝t_s-Δt，根据t_e-Δt时刻与t_s-Δt时刻分别对应的所述待测运算放大器的输出电压，计算t_e-Δt时刻与t_s-Δt时刻之间的输出电压的斜率G_t；

判断G_t与G₀的差值的绝对值是否大于斜率最大允许误差E；

若是，则根据斜率计算终止时刻t_e确定所述预设延迟时间t_delay＝t_e+2Δt+t_offset，其中t_offset为设定的额外延时；

否则，令E＝G₀-G_t，G₀＝G_t，t_e＝t_e-Δt，t_s＝t_s-Δt，根据t_e-Δt时刻与t_s-Δt时刻分别对应的所述待测运算放大器的输出电压，计算t_e-Δt时刻与t_s-Δt时刻之间的输出电压的斜率G_t，并返回至判断G_t与G₀的差值的绝对值是否大于斜率最大允许误差E的步骤。