[发明专利]闪存数据故障检测方法及计算机可读取存储介质有效

专利信息
申请号: 202010140007.9 申请日: 2020-03-03
公开(公告)号: CN113342557B 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 袁竟成 申请(专利权)人: 慧荣科技股份有限公司
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07;G06F11/14
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 闪存 数据 故障 检测 方法 计算机 读取 存储 介质
【说明书】:

发明涉及一种闪存数据故障检测方法及计算机可读取存储介质,其中该闪存数据故障检测方法由分析主机的处理单元于加载并执行软件的程序代码时实施。处理单元耦接外设存储接口,用于连接其上发生故障的存储装置。所述闪存数据故障检测方法包含:获取存储装置中用来进行故障分析的数据并备份在本地存储装置,而不完整备份所述存储装置中的所有数据,从而协助进行初步分析。由此,能够避免完整备份所有数据花费大量时间。

技术领域

本发明涉及存储装置,尤指一种闪存数据故障检测方法及计算机可读取存储介质。

背景技术

随着对存储器装置(如动态随机存取存储器、闪存等)的存储空间及电路微型化的需求增加,存储器制造商追求在不牺牲珍贵母板空间的情况下提升芯片的性能。芯片设计者不使用传统的单一芯片或多芯片封装,反而采用多芯粒堆栈的解决方案。多芯粒(Dies,如多个存储器芯片)堆栈不只降低封装的整体面积,还在推动信号时消耗较少的能量并获得更快的传输速度,进而有效提升电性信号的效能。堆栈芯粒的打线技术用以使堆栈的存储器芯片及印刷电路板间彼此连接,进而使控制器通过基底耦接或连接上存储器芯片。之后,堆栈的存储器芯片、控制器和基底再封装起来,成为单一的集成电路(IntegratedCircuits,IC)。然而,当存储器芯片中存储的数据发生重大的错误并需要故障分析时,可能需要破坏封装好的芯片。因此,本发明提出一种闪存数据故障检测方法及计算机可读取存储介质,用于在进行破坏性分析前有效率地备份数据,有利于以后的故障分析。

发明内容

有鉴于此,如何减轻或消除上述相关领域的缺陷,实为有待解决的问题。

本发明涉及一种闪存数据故障检测方法,由分析主机的处理单元于加载并执行软件的程序代码时实施。处理单元耦接外设存储接口,用于连接其上发生故障的存储装置。所述方法包含:获取存储装置中用来进行故障分析的数据并备份在本地存储装置,而不完整备份所述存储装置中的所有数据,从而协助进行初步分析。

本发明还涉及一种闪存数据故障检测的计算机可读取存储介质,用于存储能够被分析主机的处理单元执行的程序代码,并且所述程序代码被所述处理单元执行时实现以上所述的方法。

上述实施例的优点之一,通过如上所述的获取和备份的技术手段,避免完整备份所有数据花费大量时间。

上述实施例的另一优点,通过如上所述的获取和备份的技术手段,避免存储模块中用户私密或机密的信息被不法人员从用来做备份的本地存储装置窃取。

本发明的其他优点将配合以下的说明和附图进行更详细的解说。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。

图1为依据本发明实施例的故障分析系统示意图。

图2为依据本发明实施例的分析主机的框图。

图3为依据本发明实施例的存储装置的框图。

图4为依据本发明实施例的故障检测方法的流程图。

图5为依据本发明实施例的数据备份方法的流程图。

图6为依据本发明实施例的故障检测方法的流程图。

其中,附图中符号的简单说明如下:

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