[发明专利]一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器在审

专利信息
申请号: 202010140441.7 申请日: 2020-03-03
公开(公告)号: CN111272714A 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 刘黎明;迟锋;易子川;王红航;杨健君 申请(专利权)人: 电子科技大学中山学院
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63;G01N27/12
代理公司: 重庆萃智邦成专利代理事务所(普通合伙) 50231 代理人: 舒梦来
地址: 528402 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 谐振腔 原理 金属 氧化物 气体 传感器
【权利要求书】:

1.一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器,其特征在于:包括绝缘基底层(1),所述绝缘基底层(1)的上方设置有带有孔洞(5)的第一贵金属薄膜层(2),所述第一贵金属薄膜层(2)的上方设置有金属氧化物层(3),所述金属氧化物层(3)的上设置有第二贵金属薄膜层(4)。

2.如权利要求1所述的一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器,其特征在于:所述多个孔洞(5)为周期排列。

3.如权利要求1所述的一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器,其特征在于:所述孔洞(5)底部设置有贵金属颗粒层(6)。

4.如权利要求1所述的一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器,其特征在于:所述贵金属颗粒层(6)的高度高于第一贵金属薄膜层(2)的厚度。

5.如权利要求4所述的一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器,其特征在于:所述孔洞(5)的半径为100nm~1000nm。

6.如权利要求1所述的一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器,其特征在于:所述贵金属颗粒层(6)为圆柱形。

7.如权利要求1所述的一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器,其特征在于:所述贵金属颗粒层(6)为圆锥形。

8.如权利要求1所述的一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器,其特征在于:所述第一贵金属薄膜层(2)、第二贵金属薄膜层(4)均是由金或银制成。

9.如权利要求1所述的一种光学谐振腔原理的金属氧化物气体传感器,其特征在于:所述金属氧化物层(3)是氧化铁(Fe2O3)、氧化铜(CuO)、氧化锌(ZnO)、四氧化三钴(Co3O4)、氧化镍(NiO)、氧化钛(TiO2)、氧化钼(MoO3)、氧化锡(SnO2)中的一种或多种组成。

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