[发明专利]一种用于新型测试机的射频电路、测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202010140745.3 申请日: 2020-03-03
公开(公告)号: CN111245449A 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 梁建;罗雄科 申请(专利权)人: 上海泽丰半导体科技有限公司
主分类号: H04B1/00 分类号: H04B1/00;G01R31/28
代理公司: 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 代理人: 杨用玲
地址: 200233 上海市徐*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 新型 测试 射频 电路 系统 方法
【说明书】:

发明提供了一种新型测试机射频电路,包括:射频信号选择器,所述射频信号选择器的第一地址译码端控制所述射频信号选择器的射频信号连接端选择接收待测器件输出的射频信号;射频信号分配器,与所述射频信号选择器连接,接收所述射频信号选择器输出的射频信号,所述射频信号分配器的第二译码端控制分配所述射频信号给射频信号处理单元进行不同的带宽处理;所述射频信号处理单元包括带宽可调电路模块,与所述射频信号分配器连接,接收所述射频信号分配器分配的射频信号,调节所述射频信号带宽后输出至测试机。本发明通过模块化的射频电路实现多路复用的优点,进而降低成本以及提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及射频技术领域,特别是涉及一种用于新型测试机的射频电路、测试系统及测试方法。

背景技术

在无线电通讯领域研发和生产过程中,通常会使用到大量的射频信号,针对待测器件的射频测试一直是业界痛点。在进行射频信号的多样化测试可能涉及到不同的测试环境配置,而射频测试的环境搭建和配置非常耗费时间,在工厂大批量测试时改变测试环境将会导致测试效率极具降低,并且影响到测试机已经校准的状态,造成精度下降甚至数据出错。

在器件滤波的测试中,针对不同的滤波结构,一般是通过根据射频信号的实际需要对频带外的信号进行滤出,以此保证射频信号的有效带宽。传统的一种滤波电路仅能实现一种带宽的滤波,所以对于需要获得不同通频带宽的射频信号来说,需要多种滤波电路。此时就导致了滤波电路使用的局限性,增加了射频信号获取通频带宽的成本。而且,多个滤波电路的设计与制造需要大量的人力和物力,在一定程度上时间成本和经济成本都比较高。对于获取射频信号的通频带宽的操作人员来说,操作过程则更为繁琐。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于新型测试机的射频电路、测试系统以及测试方法,能够简便、高效、低成本的实现多路复用。

本发明提供的技术方案如下:

一种用于新型测试机的射频电路,包括:射频信号选择器,所述射频信号选择器的第一地址译码端控制所述射频信号选择器的射频信号连接端选择接收待测器件输出的射频信号;射频信号分配器,与所述射频信号选择器连接,接收所述射频信号选择器输出的射频信号,所述射频信号分配器的第二译码端控制分配所述射频信号给射频信号处理单元进行不同的带宽处理;所述射频信号处理单元包括带宽可调电路模块,与所述射频信号分配器连接,接收所述射频信号分配器分配的射频信号,调节所述射频信号带宽后输出至测试机。

进一步的,所述带宽可调电路模块包括三个子模块和一个接地电容,所述子模块由一个电感与一个电容并联,通过调节所述电感值和电容值获取不同带宽的滤波电路。

进一步的,所述射频信号选择器的第一传输端与第一射频信号连接端的射频信号输出端连接,所述第一射频信号连接端用于接收第一待测器件的射频信号;所述射频信号选择器的第二传输端与第二射频信号连接端的射频信号输出端连接,所述第二射频信号连接端用于接收第二待测器件的射频信号;所述射频信号选择器的第三传输端与第三射频信号连接端的射频信号输出端连接,所述第三射频信号连接端用于接收第三待测器件的射频信号;所述射频信号选择器的第四传输端与第四射频信号连接端的射频信号输出端连接,所述第四射频信号连接端用于接收第四待测器件的射频信号;所述射频信号选择器的第五传输端通过一个电阻接地;所述射频信号选择器的电源通过连接两个并联的旁路电容接地,用于输入稳定的电源;所述射频信号选择器的射频信号控制端连接第一地址译码端,用以控制所述射频信号的选择;所述射频信号选择器的第六传输端作为射频信号的输入端/输出端与所述射频信号分配器的第一传输端连接。

进一步的,所述射频信号处理单元还包括;固定带宽电路模块,所述固定带宽电路模块的射频信号传输端与所述射频信号分配器的传输端连接,用于对多个射频信号进行滤波得到固定带宽的射频信号;和/或直通电路模块,所述直通电路的射频信号传输端与所述射频信号分配器的传输端连接,当需要输出原始的所述射频信号时,将所述射频信号通过所述直通电路输出。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海泽丰半导体科技有限公司,未经上海泽丰半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010140745.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top