[发明专利]天线测试方法、设备及计算机可读存储介质

说明书

本申请提供一种天线测试方法、设备及计算机可读存储介质，该方法包括：控制控制所述第一探针移动，以使所述第一探针与一个待测天线接触；并控制所述第二探针移动，以使所述第二探针分别与其余的每个所述待测天线接触，使得所述第一探针、第一探针接触的所述待测天线、第二探针、第二探针接触的所述待测天线形成天线测试回路；然后在每次形成所述天线测试回路时，检测所述天线测试回路是否为通路，得到每个所述待测天线的连接测试结果。本申请能够便捷且准确的检测电路板上的多个天线的连接情况。

技术领域

本申请涉及天线领域，尤其涉及一种天线测试方法、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着通信技术的发展，5G技术的逐渐普及，多进多出技术(multiple-inmultipleout，MIMO)的广泛应用，通信产品上的天线数量越来越多，连接到同一个电路主板上的天线越来越多。天线数量的增多，在产线出现连接不良状况的可能性就越大。

当前，在产线上检测天线连接是否正常的方法，通过万用表调档至0Ω蜂鸣器档位，表笔分别接触天线图案部分和射频微带传输线，如果万用表两端表笔在接触这两个地方后，万用表的蜂鸣器会响，则认为天线正常连接，如果不响，则表明天线未正常连接到电路主板上。但天线数量较多的情况下，容易造成误判或漏测的现象。因此，如何快速准确的测量天线是否正常连接是目前亟待解决的问题。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种天线测试方法、设备及计算机可读存储介质，旨在准确、便捷的检测电路板上的多个天线连接情况。

第一方面，本申请提供一种天线测试方法，所述天线测试方法包括以下步骤：

控制所述第一探针移动，以使所述第一探针与一个所述待测天线接触；

控制所述第二探针移动，以使所述第二探针分别与其余的每个所述待测天线接触，使得所述第一探针、第一探针接触的所述待测天线、第二探针、第二探针接触的所述待测天线形成天线测试回路；

在每次形成所述天线测试回路时，检测所述天线测试回路是否为通路，得到每个所述待测天线的连接测试结果。

第二方面，本申请还提供一种天线测试设备，所述天线测试设备包括第一探针、第二探针、处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如上述的天线测试方法的步骤。

第三方面，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其中所述计算机程序被处理器执行时，实现如上述的天线测试方法的步骤。

本申请提供一种天线测试方法、设备及计算机可读存储介质，本申请通过控制第一探针移动，以使该第一探针与一个待测天线接触；然后控制第二探针移动，以使该第二探针分别与其余的每个待测天线接触，使得该第一探针、第一探针接触的待测天线、第二探针、第二探针接触的待测天线形成天线测试回路；之后在每次形成天线测试回路时，检测该天线测试回路是否为通路，得到每个待测天线的连接测试结果。本申请通过控制第一探针和第二探针移动以形成天线测试回路，并检测该天线测试回路是否为通路，能够便捷且准确的检测电路板上的多个天线的连接情况。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例中的待测电路板的一结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种天线测试方法的流程示意图；

图3为本申请实施例中的天线测试设备检测待测电路板的一场景示意图；

图4为本申请实施例提供的一种天线测试设备的结构示意性框图。