[发明专利]一种同步电路及同步检测方法在审

专利信息
申请号: 202010147020.7 申请日: 2020-03-05
公开(公告)号: CN111343118A 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 张书迁;钱永学;蔡光杰;孟浩;黄鑫 申请(专利权)人: 北京昂瑞微电子技术有限公司
主分类号: H04L27/14 分类号: H04L27/14;H04L27/00;H04L7/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王欢
地址: 100084 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 同步 电路 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种同步电路,其特征在于,该同步电路包括:

移位寄存器,用于接收接收机解调输出的FSK信号采样点,并将所述FSK信号采样点发送至运算判定单元;

所述运算判定单元,用于将所述FSK信号采样点减去载波频偏直流信号后,判断所述FSK信号采样点的正负频偏,并将判断结果进行二值化处理,得到采样点的正负频偏结果;其中,所述运算判定单元的个数与同步序列的位数相同;

同步序列求相关单元,用于将所述采样点的正负频偏结果与本地同步序列的正负频偏结果进行互相关计算,得到互相关值;

同步结果判定和输出单元,用于将所述互相关值与互相关阈值进行比较,当所述互相关值达到所述互相关阈值后,确定互相关峰值点的位置,将所述互相关峰值点对应的时刻作为同步时刻点输出。

2.根据权利要求1所述的同步电路,其特征在于,所述运算判定单元包括:

加法器,用于将所述FSK信号采样点减去载波频偏直流信号;

第一判定单元,用于判断所述FSK信号采样点的正负频偏,并将判断结果进行二值化处理,得到采样点的正负频偏结果;其中,每个运算判定单元中第一判定单元的个数与符号过采样的倍数相同。

3.根据权利要求2所述的同步电路,其特征在于,所述运算判定单元还包括:

第二判定单元,用于判断当前符号的正负频偏,并将判断结果进行二值化处理,得到符号的正负频偏结果;其中,每个运算判定单元包含一个第二判定单元。

4.根据权利要求3所述的同步电路,其特征在于,所述第二判定单元判断当前符号的正负频偏包括:

将当前符号内所有的采样点数据减去所述载波频偏直流信号后再相加求和,根据结果的正负值判断当前符号的正负频偏;

或者,对当前符号的中央采样点进行二值化处理,根据该二值化处理的结果判断当前符号的正负频偏。

5.根据权利要求3所述的同步电路,其特征在于,所述同步电路还包括:

同步序列符号错误统计单元,用于接收所述第二判定单元发送的所述符号的正负频偏结果,检测所述符号与本地同步序列信息不一致的个数,得到符号错误数。

6.根据权利要求5所述的同步电路,所述同步结果判定和输出单元还用于,记录所述峰值点的符号错误数,当所述峰值点的符号错误数小于预设阈值时,确定所述峰值点为同步时刻点。

7.一种同步电路同步检测方法,其特征在于,所述方法包括:

利用移位寄存器接收接收机解调输出的FSK信号采样点,并将所述FSK信号采样点发送至运算判定单元;

利用所述运算判定单元将所述FSK信号采样点减去载波频偏直流信号后,判断所述FSK信号采样点的正负频偏,并将判断结果进行二值化处理,得到采样点的正负频偏结果;其中,所述运算判定单元的个数与同步序列的位数相同;

利用同步序列求相关单元将所述采样点的正负频偏结果与本地同步序列的正负频偏结果进行互相关计算,得到互相关值;

利用同步结果判定和输出单元将所述互相关值与互相关阈值进行比较,当所述互相关值达到所述互相关阈值后,确定互相关峰值点的位置,将所述互相关峰值点对应的时刻作为同步时刻点输出。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

利用所述运算判定单元判断当前符号的正负频偏,并将判断结果进行二值化处理,得到符号的正负频偏结果。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

利用同步序列符号错误统计单元接收所述符号的正负频偏结果,检测所述符号与本地同步序列信息不一致的个数,得到符号错误数。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

利用同步结果判定和输出单元记录所述峰值点的符号错误数,当所述峰值点的符号错误数小于预设阈值时,确定所述峰值点为同步时刻点。

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