[发明专利]W波段宽带可变分数延时方法及系统有效
申请号: | 202010147483.3 | 申请日: | 2020-03-05 |
公开(公告)号: | CN111367196B | 公开(公告)日: | 2023-08-18 |
发明(设计)人: | 徐啸;王立权;黄杉;柴娟芳;沈荣;陆戈辉;张业鑫;汪书阁;臧海飞;程禹 | 申请(专利权)人: | 上海机电工程研究所 |
主分类号: | G05B17/02 | 分类号: | G05B17/02;G01S7/02 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
地址: | 201109 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 波段 宽带 可变 分数 延时 方法 系统 | ||
1.一种W波段宽带可变分数延时方法,其特征在于,包括
步骤S1:设计基于Farrow结构的可变分数延时滤波器,使得该延时精度满足需要实现的延时精度,求解Farrow结构中各个滤波器的系数,获得第一Farrow结构的可变分数延时滤波器;
步骤S2:根据获得的第一Farrow结构的可变分数延时滤波器,匹配待处理的信号带宽以及前端AD模块的采样率,得到最优拟合阶数M以及滤波器长度N,并重新计算各个滤波器系数,获得第二Farrow结构的可变分数延时滤波器;
步骤S3:将第二Farrow结构的可变分数延时滤波器进行L路复制,并将滤波器系数映射到其他L-1个Farrow结构滤波器上,生成三维Farrow结构滤波器组;
步骤S4:对生成的三维Farrow结构滤波器组中的每一路中的每一个子滤波器进行分裂矩阵加权处理,得到新的滤波器系数,获得新的三维Farrow结构滤波器组;
步骤S5:根据得到的第三滤波器系数以及三维Farrow结构设计多路并行高效三维Farrow结构可变分数延时结构,使得该结构可以对宽带W波段射频信号进行可变分数延时。
2.根据权利要求1所述的W波段宽带可变分数延时方法,其特征在于,所述步骤S1:
使用Lagrange插值方法求解Farrow结构中各个滤波器的系数;
所述L是指多路并行架构的并行路数。
3.根据权利要求1所述的W波段宽带可变分数延时方法,其特征在于,所述步骤S2:
根据获得的第一Farrow结构的可变分数延时滤波器,匹配待处理的信号带宽以及前端AD模块的采样率,同时保证该实现结构的幅频响应和相频响应在有效带宽内大于延时精度,得到最优拟合阶数M以及滤波器长度N。
4.根据权利要求3所述的W波段宽带可变分数延时方法,其特征在于,所述得到最优拟合阶数M以及滤波器长度N:
将第一Farrow结构的可变分数延时滤波器的幅频响应和相频响应与第二Farrow结构的可变分数延时滤波器的幅频响应和相频响应做比较,在保证滤波器的幅频响应和相频响应在有效带宽内大于延时精度的条件下,M、N越小消耗的资源就越少,系统效率就越高,获得最优拟合阶数M以及滤波器长度N。
5.根据权利要求1所述的W波段宽带可变分数延时方法,其特征在于,所述分裂矩阵加权处理指利用超大规模集成电路技术VLSI中的快速FIR算法对滤波器进行矩阵加权,进而得到新的滤波器系数;
所述步骤S5:将获得的新的三维Farrow结构的输出乘上小数延时量,然后将结果进行加法运算得到最终的W波段宽带可变分数延时实现结构。
6.一种W波段宽带可变分数延时系统,其特征在于,包括
初始系数计算模块:设计基于Farrow结构的可变分数延时滤波器,使得该延时精度满足需要实现的延时精度,求解Farrow结构中各个滤波器的系数,获得第一Farrow结构的可变分数延时滤波器;
N-M参数优化模块:根据获得的第一Farrow结构的可变分数延时滤波器,匹配待处理的信号带宽以及前端AD模块的采样率,得到最优拟合阶数M以及滤波器长度N,并重新计算各个滤波器系数,获得第二Farrow结构的可变分数延时滤波器;
并行多路滤波器系数映射模块:将第二Farrow结构的可变分数延时滤波器进行L路复制,并将滤波器系数映射到其他L-1个Farrow结构滤波器上,生成三维Farrow结构滤波器组;
分裂矩阵加权模块:对生成的三维Farrow结构滤波器组中的每一路中的每一个子滤波器进行分裂矩阵加权处理,得到新的滤波器系数,获得新的三维Farrow结构滤波器组;
小数加权模块:根据得到的第三滤波器系数以及三维Farrow结构设计多路并行高效三维Farrow结构可变分数延时结构,使得该结构可以对宽带W波段射频信号进行可变分数延时。
7.根据权利要求6所述的W波段宽带可变分数延时系统,其特征在于,所述初始系数计算模块:
使用Lagrange插值方法求解Farrow结构中各个滤波器的系数;
所述L是指多路并行架构的并行路数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海机电工程研究所,未经上海机电工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010147483.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:钢轨廓形检测方法及装置
- 下一篇:一种自动生成数据判断结果的方法和系统