[发明专利]一种水下全密封装置的密封检测系统及检测方法

说明书

一种水下全密封装置的密封检测系统及检测方法，密封检测系统具有压力舱（1），与所述压力舱（1）连接的观察口（2）、过线机构（3）、排水阀（4）、泄压阀（17）、供气系统和供水系统；检测过程包括以下步骤：将被检水下全密封装置（18）放入压力舱（1）中；将过线机构（3）封闭，启动供气系统向压力舱（1）内充入气体；当压力舱（1）内的气体达到设定的压力后，保压到设定时间后，关闭供气加压装置（12）；启动供水系统将水注入压力舱（1），置换出压力舱（1）内的压缩气体；打开泄压阀（17），使压力舱（1）泄压；观察压力舱（1）内的水面是否出现连续性气泡；当水面出现连续性气泡，则密封性能不符合要求；没有气泡溢出时密封性能符合要求。

技术领域

本发明涉及水下全密封装置的密封检测技术领域，尤其涉及一种水下全密封装置的密封检测系统及检测方法。

背景技术

水下全密封装置，工作在水下，要求密封可靠。多数水下全密封装置接头采用硫化工艺防水。在生产过程中，水下全密封装置需进行水密检测。在使用过程中因受到意外损伤，使用环境的影响，老化等因素常导致密封失效，密封失效时常导致水进入电路系统，损坏电路系统。目前多通过肉眼来评判其渗漏点，当发现密封失效后，水已进入电路系统，损失已经产生。

在使用过程中，出现密封失效后，方能通过肉眼来评判其渗漏点，多数情况下，即使密封失效后，也很难评判其渗漏点。目前针对水下全密封装置的泄漏检测方法，主要采取将水下全密封装置置入水压釜中进行测试，来确定水下全密封装置是否发生泄漏。当密封失效后，多导致水进入水下全密封装置的电路系统，而致损失。如何验证水下全密封装置的密封可靠，目前尚未见有好的方法和资料介绍。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明所要解决的技术问题是提供一种能够避免水进入水下全密封装置的电路系统，在检测时不损坏电路系统的水下全密封装置的密封检测系统及检测方法。

为了解决上述技术问题，一方面，本发明提供一种水下全密封装置的密封检测系统，具有压力舱，与所述压力舱连接的观察口，与所述压力舱连接的过线机构，与所述压力舱连通的排水阀，与所述压力舱连通的泄压阀，与所述压力舱连通的供气系统和供水系统。

作为本发明的进一步改进方案，本发明提供的水下全密封装置的密封检测系统，所述过线机构包括与压力舱连接的过线套，所述过线套具有凸形通孔，过线机构还包括位于凸形通孔台阶底部的第一垫片，位于第一垫片远离压力舱腔室侧的过线密封圈或堵头密封圈，位于过线密封圈或堵头密封圈远离压力舱腔室侧的第二垫片，位于第二垫片远离压力舱腔室侧、与所述凸形通孔螺纹连接的锁紧螺母。

作为本发明的进一步改进方案，本发明提供的水下全密封装置的密封检测系统，所述过线密封圈为单开或对开结构；所述第一垫片、第二垫片为对开结构。

作为本发明的进一步改进方案，本发明提供的水下全密封装置的密封检测系统，所述供气系统包括供气加压装置，与所述供气加压装置出口连通的单向阀，与所述单向阀出口连通的溢流减压阀，设置在溢流减压阀与压力舱之间管路上的第一阀门；所述供水系统包括供水加压装置，与所述供水加压装置出口连通的溢流调压阀，设置在供水加压装置与压力舱之间管路上的第二阀门。

为了解决上述技术问题，另一方面，本发明提供一种水下全密封装置的密封检测方法，在水下全密封装置的密封检测系统内进行检测，所述水下全密封装置的密封检测系统具有压力舱，与所述压力舱连接的观察口，与所述压力舱连接的过线机构，与所述压力舱连通的排水阀，与所述压力舱连通的泄压阀，与所述压力舱连通的供气系统和供水系统；所述供气系统包括供气加压装置，与所述供气加压装置出口连通的单向阀，与所述单向阀出口连通的溢流减压阀，设置在溢流减压阀与压力舱之间管路上的第一阀门；所述供水系统包括供水加压装置，与所述供水加压装置出口连通的溢流调压阀，设置在供水加压装置与压力舱之间管路上的第二阀门；检测过程包括以下步骤：

1）将被检水下全密封装置放入压力舱中；