[发明专利]分析系统及其分析方法

权利要求书

1.一种分析方法，其特征在于，包含有：

取得第一数据；以及

依据至少一基底对该第一数据进行曲线拟合，以产生对应该至少一基底的至少一系数，其中，该至少一基底中的一者对应的函数图形具有不对称性。

2.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，该第一数据为待测物被激发的第一荧光信号强度与波长的对应关系，该至少一基底中的每一者分别为已知物质被激发的第二荧光信号强度与波长的对应关系。

3.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，该函数图形于第一波长区间的定积分小于该函数图形于第二波长区间的定积分，该第一波长区间的积分下界对应该函数图形的第一局部极小值，该第二波长区间的积分上界对应该函数图形的第二局部极小值，且该第一波长区间的积分上界与该第二波长区间的积分下界均对应该函数图形的局部极大值。

4.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，该曲线拟合是依据最小平方法、复线性回归法、主成分分析法、逐点交叉相关函数法、最小绝对差递回法或小波转换法来进行。

5.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，另包含有：

取得第二数据；以及

进行数据处理步骤，以于该第二数据去除噪声，而取得该第一数据。

6.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，另包含有：

取得第二数据；以及

进行数据处理步骤，以撷取部分的该第二数据，而取得该第一数据。

7.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，另包含有：

取得第二数据；以及

进行数据处理步骤，以将该第二数据归一化，而取得该第一数据。

8.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，另包含有：

将光源发出的光束导向待测物，以通过测量该待测物被激发的第一荧光信号而取得该第一数据。

9.如权利要求8所述的分析方法，其特征在于，该光源为激光光源，该光源的频宽小于该至少一基底中的一者的频宽的十分之一，且频宽可通过半高全宽来界定。

10.如权利要求8所述的分析方法，其特征在于，该光源为发散角度小于或等于10度的发光二极管光源。

11.如权利要求8所述的分析方法，其特征在于，该待测物进行即时聚合酶链式反应。

12.一种分析系统，其特征在于，包含有：

一存储单元，用来存储程序码；以及

一处理单元，用来执行该程序码，其中，编译成该程序码的分析方法包含有：

取得第一数据；以及

依据至少一基底对该第一数据进行曲线拟合，以产生对应该至少一基底的至少一系数，其中，该至少一基底中的一者对应的函数图形具有不对称性。

13.如权利要求12所述的分析系统，其特征在于，该第一数据为待测物被激发的第一荧光信号强度与波长的对应关系，该至少一基底中的每一者分别为已知物质被激发的第二荧光信号强度与波长的对应关系。

14.如权利要求12所述的分析系统，其特征在于，该函数图形于第一波长区间的定积分小于该函数图形于第二波长区间的定积分，该第一波长区间的积分下界对应该函数图形的第一局部极小值，该第二波长区间的积分上界对应该函数图形的第二局部极小值，且该第一波长区间的积分上界与该第二波长区间的积分下界均对应该函数图形的局部极大值。

15.如权利要求12所述的分析系统，其特征在于，该曲线拟合是依据最小平方法、复线性回归法、主成分分析法、逐点交叉相关函数法、最小绝对差递回法或小波转换法来进行。