[发明专利]一种高精度频谱校正方法有效
| 申请号： | 202010150163.3 | 申请日： | 2020-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN111257815B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 李波;罗永睦;张林山;周年荣;曹敏;王浩;杨超;付志红;赖强;朱全聪;利佳;邹京希 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R23/16 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 频谱 校正 方法 | ||
1.一种高精度频谱校正方法，其特征在于，包括：
采集短时离散采样信号；
对所述短时离散采样信号加窗并进行DFT计算，得到变换后频谱函数；
通过局部峰值搜索所述变换后频谱函数，得到峰值；
选取峰值所在谱线及相邻的两条谱线作为目标谱线，对所述目标谱线对应的实部和虚部进行拆分，生成实部拆分结果和虚部拆分结果；
对所述实部拆分结果进行三点插值计算，得到实部计算结果；
对所述虚部拆分结果进行三点插值计算，得到虚部计算结果；
对所述实部计算结果和所述虚部计算结果进行数学平均计算，得到高精度频谱校正结果；
所述数学平均计算为对所述实部计算结果和所述虚部计算结果的乘积取平方根。
2.根据权利要求1所述的高精度频谱校正方法，其特征在于，对所述短时离散采样信号加窗并进行DFT计算，得到变换后频谱函数，包括：
利用窗函数对所述短时离散采样信号进行加窗处理，得到加窗后频谱函数；
对所述加窗后频谱函数进行DFT计算，得到变换后频谱函数。
3.根据权利要求2所述的高精度频谱校正方法，其特征在于，所述窗函数为H项余弦窗函数，表示为：
式中，N为采样点数，ah为窗函数系数；H为窗函数的阶数。
4.根据权利要求1所述的高精度频谱校正方法，其特征在于，对所述实部计算结果和所述虚部计算结果进行数学平均计算，得到高精度频谱校正结果，包括：
对所述实部计算结果进行归一化处理，得到实部归一化结果；
对所述虚部计算结果进行归一化处理，得到实部归一化结果；
对所述实部归一化结果和所述实部归一化结果进行数学平均计算，得到高精度频谱校正结果。
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