[发明专利]轴向磁通电机组件及其组装方法

权利要求书

1.一种组装电机的方法，所述方法包括：

将转子毂联接到转子盘以形成转子组件；

在第一位置处将所述转子毂可滑动地联接到轴；

将定子组件联接到所述轴，以在所述定子组件与所述转子组件之间限定第一轴向间隙；以及

使所述转子组件沿着所述轴滑动到第二位置，以在所述定子组件与所述转子组件之间限定第二轴向间隙，其中，所述第二位置是基于当所述转子组件处于该第二位置时测定的所述电机的反EMF常数。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，使所述转子组件滑动包括：使所述转子组件滑动以使得所述第二轴向间隙小于所述第一轴向间隙。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：在使所述转子组件滑动到所述第二位置之前将至少一个轴承组件联接到所述轴。

4.根据权利要求1所述的方法，还包括：将至少一个磁体联接到所述转子盘，其中，在所述至少一个磁体与所述定子组件之间限定所述第一轴向间隙和第二轴向间隙。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，使所述转子组件滑动包括：使所述转子组件滑动以使得所述第一轴向间隙在大约3.0mm至5.0mm之间的范围内。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，使所述转子组件滑动包括：使所述转子组件滑动以使得所述第二轴向间隙在大约2.4mm至2.8mm之间的范围内。

7.根据权利要求1所述的方法，还包括：使所述转子组件在处于所述第一位置时动态地平衡。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，使所述转子组件滑动至所述第二位置包括：使所述转子组件从所述第一位置沿着所述轴滑动，直到测定的反EMF常数基本上等于预定的反EMF常数。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，使所述转子组件滑动到所述第二位置包括：

当所述转子组件处于所述第一位置时测量所述电机的反EMF常数；

将在第一位置处测定的反EMF常数与预定的期望反EMF常数进行比较；

将所述转子组件沿着所述轴调节或滑动到所述第二位置；以及

当所述转子组件处于所述第二位置时，测量所述电机的反EMF常数。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，在所述第一位置处测定的反EMF常数与所述预定的期望反EMF常数不同。

11.根据权利要求9所述的方法，其中，在所述第二位置处测定的反EMF常数基本上等于所述预定的期望反EMF常数。

12.一种组装电机的方法，所述方法包括：

将转子毂联接到转子盘以形成转子组件；

在第一位置处将所述转子毂可滑动地联接到带有轴向滚花的轴；

在所述转子组件附近将定子组件联接到所述轴；

当所述转子组件处于所述第一位置时，测量所述电机的反EMF常数；以及

使所述转子组件沿着所述轴滑动到第二位置，其中在所述第二位置处测定的反EMF常数基本上等于预定的反EMF常数。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，联接所述定子组件包括：联接所述定子组件以在所述定子组件与处于所述第一位置的所述转子组件之间限定第一轴向间隙，并且其中，使所述转子组件滑动包括：使所述转子组件滑动以在所述定子组件与所述转子组件之间限定第二轴向间隙。

14.根据权利要求12所述的方法，还包括：将在所述第一位置处测定的反EMF常数与所述预定的期望反EMF常数进行比较，其中，在所述第一位置处测定的反EMF常数与所述预定的期望反EMF常数不同。