[发明专利]获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010152367.0 申请日: 2020-03-06
公开(公告)号: CN111397560B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 李成;杜二宝;高学海;姚水永;倪江华 申请(专利权)人: 深圳力合精密装备科技有限公司
主分类号: G01B21/04 分类号: G01B21/04;G06T17/10
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 武志峰
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 获取 理论值 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【说明书】:

发明公开了获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质,方法包括:选择模型方槽内的原始面A并获取法向量Va和中心点Pa;中心点Pa沿法向量Va方向射出并构成射线lin,求出射线lin与被测工件模型的第一个交点Pc;将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程,得到面的集合PlaneAs;将集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行上述流程,获取所有面的集合PlaneBs,并从中找到点Pc所在的平面C,获取平面C的集合PlaneCs并且将其与集合PlaneAs相交,在交集中获取平面B和平面D并计算出点Pb和点Pd。该方法获取方槽特征的理论值并形成实际的测量路线,将方槽特征的理论值与测量机的测量结果进行对比并判定测量结果是否有误差。

技术领域

本发明涉及测量方法技术领域,尤其涉及一种测量过程中获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

在工件生产或日常的检具标定过程中,通常使用测量机对待测工件进行测量,而工件上常见有方槽等形状,例如方槽的长度、宽度和高度这些特征的测量中,现有技术需要手动进行规划测量路径,无法实现自动规划路径。

发明内容

本发明的目的是提供一种测量过程中获取方槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质,旨在解决现有技术需要手动进行规划测量路径,无法实现自动规划路径的问题。

第一方面,本发明实施例提供一种测量过程中获取方槽理论值的方法,其包括:

选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A,获取原始面A的法向量Va和中心点Pa;

以所述中心点Pa为起点,沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin,求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点,并将交点设置为点Pc;

将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程,得到面的集合PlaneAs;

其中,所述创建相邻面的集合的流程包括:获取起始面最外环的所有直边,并组成边的集合;获取与起始面相邻并共享有同一条边的所有平面,并将所有的平面加入面的集合PlaneAs;

将所述集合PlaneAs中的每一个平面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程,获取多个面的集合TPS,将所有集合TPS放入面的集合PlaneBs中,并去除重复项;

在集合PlaneBs中找到点Pc的所在的面并将此面设置为平面C,以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程,获取面的集合PlaneCs;

获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs;

在所述交集PlaneBDs中,获取每个平面的法向量,将法向量反向的一组平面提取出来,作为平面B和平面D;

求取点Pa和Pc中点Mp,分别将Mp向平面B和平面D投影得到点Pb和Pd;

计算中心点Pa到点Pc的距离D1,以及获取点Pb到所述平面D的距离D2,并将所述距离D1设为方槽的长度,以及所述距离D2设为方槽的宽度。

第二方面,本发明实施例提供了一种测量过程中获取方槽理论值的装置,其包括:

获取单元,用于选择被测工件模型中方槽内任意一面作为原始面A,获取原始面A的法向量Va和中心点Pa;

射线构成单元,用于以所述中心点Pa为起点,沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin,求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点,并将交点设置为点Pc;

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