[发明专利]一种印刷电路板总成测试方法和装置

说明书

本发明公开了一种印刷电路板总成测试方法和装置，该方法包括：从使用者接收对自动X光检测参数的数值修改并确认类型；响应于类型为接受告警的数值修改，根据预先确定的第一范围确定接受告警的数值修改是否超范围；响应于修改超范围而发出要求使用者确认接受告警的数值修改是否正确并反馈可用的超范围理由的第一超范围告警；响应于数值修改正确和超范围理由可用而允许接受告警的数值修改保存并在自动X光检测参数中生效，根据该数值修改调整用于不接受告警的数值修改的第二范围；基于经过修改的自动X光检测参数执行自动X光检测以测试印刷电路板总成是否符合生产要求。本发明能够有效监控参数设置，减少操作失误和消耗的检查时间，提高测试效果。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，更具体地，特别是指一种印刷电路板总成测试方法和装置。

背景技术

自动X光检测为印刷电路板总成生产过程中的一项重要测试工站，主要测试元件的多件、少件、多锡、少锡、气泡、偏移等不良现象。这些不良现象的判定是由机台的具体参数来管控。不同印刷电路板会产生不同的测试程序，在测试程序的调试过程中，若参数设定错误，会导致测试的覆盖率不够，导致异常板卡的流出。

针对现有技术中自动X光检测的参数设定易错导致异常板卡流出的问题，目前尚无有效的解决方案。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种印刷电路板总成测试方法和装置，能够有效监控参数设置，减少操作失误和消耗的检查时间，提高测试效果。

基于上述目的，本发明实施例的第一方面提供了一种印刷电路板总成测试方法，包括执行以下步骤：

在调试过程中，从使用者接收对自动X光检测参数的数值修改，并确认所述数值修改为接受告警的数值修改还是不接受告警的数值修改；

响应于所述数值修改为接受告警的数值修改，根据预先确定的自动X光检测参数的第一范围确定接受告警的数值修改是否超范围；

响应于确定接受告警的数值修改超范围，而发出要求使用者确认接受告警的数值修改是否正确并反馈可用的超范围理由的第一超范围告警；

响应于从使用者接收到接受告警的数值修改正确和超范围理由可用，而允许接受告警的数值修改保存并在自动X光检测参数中生效，并根据接受告警的所述数值修改来调整用于所述不接受告警的数值修改的预设第二范围；

响应于从使用者接收到接受告警的数值修改错误或超范围理由不存在或不可用，而阻止接受告警的数值修改；

在调试结束后，基于经过修改的自动X光检测参数执行自动X光检测以测试印刷电路板总成是否符合生产要求。

在一些实施方式中，第一范围初始与第二范围相同；根据接受告警的所述数值修改来调整用于所述不接受告警的数值修改的预设第二范围还包括：还将第二范围更新为兼容接受告警的数值修改；

方法还包括：

响应于所述数值修改为不接受告警的自动X光检测参数的数值修改，根据第二范围确定接受不告警的数值修改是否超范围；

响应于确定不接受告警的数值修改超范围而发出要求使用者确认不接受告警的数值修改是否正确并反馈可用的超范围理由的第二超范围告警；

响应于从使用者接收到不接受告警的数值修改正确和超范围理由可用而允许不接受告警的数值修改保存并在自动X光检测参数中生效，将第二范围更新为兼容不接受告警的数值修改；

响应于从使用者接收到不接受告警的数值修改错误或超范围理由不存在或不可用而阻止不接受告警的数值修改。

在一些实施方式中，方法还包括：

响应于确定接受告警的数值修改或不接受告警的数值修改超范围而直接允许接受告警的数值修改或不接受告警的数值修改保存并在自动X光检测参数中生效。