[发明专利]光频梳组件和方法有效

专利信息
申请号: 202010157402.8 申请日: 2020-03-09
公开(公告)号: CN111668690B 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 米歇尔·吉安达;沃尔夫冈·汉塞尔;罗纳德·霍茨瓦尔特 申请(专利权)人: 门罗系统股份有限公司
主分类号: H01S3/1112 分类号: H01S3/1112;G02F1/35;H01S3/067;H01S3/08036;H01S3/13;H01S3/30
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 王小衡;王朝辉
地址: 德国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光频梳 组件 方法
【权利要求书】:

1.一种用于操作光频梳组件(1)的方法,所述方法包括:

操作光频梳源(3)以产生组成光频梳的激光,并且将所述激光引入到公共光路(5)中;

用来自所述公共光路(5)的激光播种至少一个分支光路(7),所述至少一个分支光路(7)包括至少一个光学元件(11、13);

确定所述光频梳组件(1)内的在所述至少一个光学元件(11、13)上游的参考点(R)处耦合输出的激光和所述至少一个分支光路(7)中提供的在所述至少一个光学元件(11、13)下游的测量点(P)处耦合输出的激光之间的、所述光频梳的第一频率模式v1的相位差;并且

基于确定的与目标值的相位差的偏差来提供对于来自所述至少一个分支光路(7)的激光的相位校正。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述参考点(R)对于对多个分支光路(7)的相位差的确定是相同的。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中确定所述参考点(R)处耦合输出的激光和所述测量点(P)处耦合输出的激光之间的、第一频率模式v1的相位差包括测量参考光和所述参考点(R)处耦合输出的激光之间的跳动信号和/或所述参考光和所述测量点(P)处耦合输出的激光之间的跳动信号。

4.根据权利要求3所述的方法,其中所述参考光是连续波(CW)激光。

5.根据权利要求3所述的方法,其中所述参考光是从所述光频梳源(3)提供给所述公共光路(5)的光频梳得到的。

6.根据权利要求1或2所述的方法,其中所述至少一个光学元件(11、13)被配置为对穿过所述至少一个光学元件(11、13)的激光诱导χ(2)过程和/或χ(3)过程和/或放大穿过所述至少一个光学元件(11、13)的激光,所述至少一个光学元件(11、13)包括非线性扩频器(13),所述χ(2)过程是频率翻倍、和与差频产生或参数化放大中的一个或多个,所述χ(3)过程是自相位调制和四波混合中的一个或多个。

7.根据权利要求1或2所述的方法,其中所述光频梳源(3)本身相对于所述光频梳的偏移频率f0和/或重复频率frep是稳定的。

8.根据权利要求1或2所述的方法,其中所述相位校正包括通过操作至少一个致动器(19),经由一个或多个锁相环,来修改所述至少一个分支光路(7)的光学性质,所述至少一个致动器(19)包括以下中的一个或多个:温度修改组件、纤维挤压器、纤维拉伸器、压电鼓、具有可调长度的自由空间光路节段、电光器件或声光器件,其中,所述光学性质是组延迟和/或相位延迟。

9.根据权利要求1或2所述的方法,其中所述相位校正包括数据的后处理或前馈方案。

10.根据权利要求1或2所述的方法,其中对于所述至少一个分支光路(7),在通过分支光路(7)供应光的应用中使用不同于第一频率模式v1的第二频率模式v2

11.根据权利要求10所述的方法,其中所述相位校正包括频率变换步骤,以使得所述相位校正在所述应用所用的第二频率模式v2下提供校正,但是所述相位校正使用在第一频率模式v1下确定的相位差。

12.根据权利要求1或2所述的方法,进一步包括执行参考测量,所述参考测量表征贯穿所述至少一个分支光路(7)的激光的频率和所述激光的在所述参考点(R)处耦合输出的一部分与所述激光的在所述测量点(P)处耦合输出的另一部分之间的相位差之间的关系。

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