[发明专利]测量辅助平台以及透过率测试方法

权利要求书

1.一种测量辅助平台，其特征在于，包括：

旋转台，所述旋转台包括基体和转动体，所述转动体转动装配在所述基体上；所述转动体的顶部还开设有样品槽；

遮光板，所述遮光板安装在所述转动体上，所述遮光板上开设有光路孔。

2.根据权利要求1所述的测量辅助平台，其特征在于，所述基体的顶部设置有轴承，所述转动体的底部设置有与所述轴承配合的转轴；

所述转轴与所述轴承转动装配。

3.根据权利要求1所述的测量辅助平台，其特征在于，所述转动体的侧壁开设有与所述样品槽的槽内壁连通的贯通孔，所述贯通孔内活动插接装配有调节杆；

所述调节杆的一端伸入所述样品槽内。

4.根据权利要求3所述的测量辅助平台，其特征在于，所述转动体的顶部开设有安装槽，所述遮光板的底部插接装配在所述安装槽内。

5.根据权利要求4所述的测量辅助平台，其特征在于，所述转动体为圆柱体结构；

所述样品槽包括沿着所述转动体径向贯通的第一通槽以及开设在所述第一通槽的槽内壁的调节槽，所述调节槽内活动装配有调节活块，所述贯通孔与所述调节槽连通且所述调节杆与所述调节活块连接；

和/或，所述安装槽为沿着所述转动体径向贯通的第二通槽。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的测量辅助平台，其特征在于，还包括：

底座，所述旋转台的基体装配在所述底座上。

7.根据权利要求6所述的测量辅助平台，其特征在于，所述底座上开设有定位槽，所述基体的底部与所述定位槽相对插接装配。

8.根据权利要求7所述的测量辅助平台，其特征在于，所述定位槽和所述基体的底部之间设置有限位结构，所述基体与所述定位槽之间通过所述限位结构限制二者相对转动。

9.根据权利要求8所述的测量辅助平台，其特征在于，所述基体为圆柱体结构，所述定位槽为圆柱形槽；

所述基体的外侧壁设置有至少一个限位槽，所述定位槽的槽内壁设置有至少一个与所述限位槽配合的限位凸起，所述限位凸起与所述限位槽相对插接装配；

所述限位凸起和所述限位槽构成所述限位结构。

10.一种透过率测试方法，其特征在于，基于如权利要求1-9中任一项所述的测量辅助平台，包括如下步骤：

将待测试片放在所述样品槽内并随同所述测量辅助平台放入测量仪器的腔室中；将所述转动体相对于所述基体转动至所需角度，使所述测量仪器的测试光线落在待测试片上。