[发明专利]视差图的处理方法、装置、计算机设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 202010161147.4 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN111402152B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 王鹏 申请(专利权)人: 北京迈格威科技有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/11;G06T7/136
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 朱五云
地址: 100190 北京市海淀区科*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 视差 处理 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种视差图的处理方法,所述方法包括:

通过对初始视差图进行降采样,得到至少一个掩膜图像;

对所述掩膜图像进行斑块处理和像素替换处理,得到处理后的掩膜图像;所述像素替换处理包括使用所述掩膜图像上各像素点对应的相似像素点的视差值替换各所述像素点的视差值;

根据所述处理后的掩膜图像确定所述初始视差图上的异常视差值;

对所述初始视差图上的异常视差值进行插值处理和滤波处理,得到目标视差图。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述掩膜图像进行斑块处理,包括:

对所述掩膜图像进行斑块检测,得到所述掩膜图像上斑块区域中包含的异常视差值;

将所述掩膜图像上斑块区域中包含的异常视差值设置为第一值。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述掩膜图像进行斑块检测,得到所述掩膜图像上斑块区域中包含的异常视差值,包括:

对所述掩膜图像进行斑块检测,得到所述斑块区域;

判断所述斑块区域是否满足预设条件;

若满足,则将所述斑块区域中的各像素点的视差值确定为所述掩膜图像上斑块区域中包含的异常视差值。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预设条件包括预设个数阈值和预设均值阈值,所述判断所述斑块区域是否满足预设条件,包括:

判断所述斑块区域中的像素点的个数是否小于所述预设个数阈值,且所述斑块区域中的视差均值与所述预设均值阈值的差值是否在预设范围内;

若所述斑块区域中的像素点的个数小于所述预设个数阈值,且所述斑块区域中的视差均值与所述预设均值阈值的差值在预设范围内,则确定所述斑块区域满足预设条件;

若所述斑块区域中的像素点的个数大于或等于所述预设个数阈值,和/或,所述斑块区域中的视差均值与所述预设均值阈值的差值未在预设范围内,则确定所述斑块区域未满足预设条件。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述掩膜图像进行像素替换处理,包括:

根据原始图像确定所述掩膜图像上各像素点对应的相似像素点;所述相似像素点的像素值与对应的所述像素点的像素值之间的差值为最小值;所述原始图像为所述初始视差图对应的灰度图像;

使用各所述相似像素点的视差值对应替换各所述像素点的视差值。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据原始图像确定所述掩膜图像上各像素点对应的相似像素点,包括:

根据所述掩膜图像上各像素点所在位置,在所述原始图像上找到对应位置的各原像素点;

确定所述原始图像上各所述原像素点对应的相似原像素点;所述相似原像素点的像素值与对应的所述原像素点的像素值之间的差值为最小值;

根据各所述相似原像素点的位置,在所述掩膜图像上找到对应位置的各像素点,并将找到的各像素点确定为所述掩膜图像上各像素点对应的相似像素点。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述确定所述原始图像上各所述原像素点对应的相似原像素点,包括:

以各所述原像素点为中心,确定各所述原像素点在所述原始图像上的搜索范围;

计算所述原像素点与所述搜索范围内其余原像素点之间的像素差值;

将最小的所述像素差值对应的原像素点确定为所述原始图像上所述原像素点对应的相似原像素点。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述处理后的掩膜图像确定所述初始视差图上的异常视差值,包括:

对所述处理后的掩膜图像的分辨率进行调整,得到目标掩膜图像;所述目标掩膜图像的分辨率与所述初始视差图的分辨率相同;

将所述目标掩膜图像上被设置为第一值的像素点映射到所述初始视差图上,以及将所述目标掩膜图像上经过视差值替换的像素点映射到所述初始视差图上,得到所述初始视差图上的异常视差值。

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